В последнее время в связи с ростом интереса к нанотехнологиям активизировались исследования наноразмерных объектов и объектов с наноразмерной структурой, которые с позиций микроскопии можно обобщенно называть наноструктурными объектами (НСО). Для исследований таких НСО широко используются высокоразрешающие атомно-силовая и электронная микроскопии. Рентгеновская микроскопия (топография) на рентгеновских трубках мало применяется в этой области из-за низкого разрешения. Pазработка ООО "ДИАГНОСТИКА-М" должна позволить в значительной степени решить существующие проблемы.

sitemap

Разработка: студия Green Art