Для диагностики и контроля наноструктурных объектов (НСО) широко используются оптические, электронные и атомно-силовые микроскопы, которые позволяют исследовать в основном поверхность объектов. Вместе с тем свойства и характеристики НСО в большей степени зависят от внутренней структуры, чем от строения поверхности. Трехмерное изображение некоторых объектов можно получать в комбинированных электронно-ионных микроскопах фирмы FEI, анализируя серии поперечных срезов, сделанных ионным пучком. В некоторых случаях с помощью этих микроскопов внутренняя структура НСО исследуется по сколам и шлифам. В последнее время внутреннею структуру объектов на макро- и микроуровне успешно изучают с помощью рентгеновского излучения.

sitemap

Разработка: студия Green Art