Просмотры: 1854
26.08.2015
Вышел в свет пятый в 2015 году номер научно-технического журнала «Наноиндустрия». На 80 полосах на русском и английском языках опубликовано одинадцать статей, посвященных проблемам развития промышленных нанотехнологий.
В рубрике «Компетентное мнение» генеральный директор компании «АэроКомпозит» Анатолий Гайданский рассказывает об уникальных компетенциях в области разработки и производства изделий из композиционных материалов для российского авиастроения. Еще один материал рубрики – интервью со специалистом по продуктовому маркетингу компании FEI Эрнстом-Яном Вессером.
О новых направлениях в исследованиях наноструктур и наноматериалов методами электронной и зондовой микроскопии рассказывается в репортаже о XIX Российском симпозиуме по растровой электронной микроскопии и аналитическим методам исследования твердых тел, который ежегодно проходит в городе Черноголовка (Московская обл.). Другой репортаж посвящен семинару "Системы для контроля, инспекции и НИОКР в электронной промышленности", в рамках которого специалисты группы компаний Industrial Monitoring and Control (IMC Group) представили современные решения для контроля микро- и наноразмерных структур в научных исследованиях и производстве электронных компонентов.
В рубрике «Экспертная оценка» зам. генерального директора компании «Интек Аналитика» Дмитрий Ловцюс, зам. генерального директора компании «Криосистемы» Максим Савинов и руководитель группы инженерных систем инженерного отдела компании «ЭлТех СПб» Дамир Вагизов рассказывают об организации работы сервисной службы в их компаниях, оперативности оказания помощи, применении удаленной диагностики, обслуживании региональных клиентов.
Рубрика «Репортаж из лаборатории» знакомит с работой научной группы Елены Мишиной из МИРЭА, которая с 2004 года реализует комплексные научные программы в области создания новых материалов для микро-, нано- и оптоэлектроники. В частности, очень перспективен проект по сверхбыстрой динамике ферроиков в сотрудничестве Институтом молекул и материалов университета Наймегена (Нидерланды).
Получение графена методами химического и плазмохимического осаждения из газовой фазы рассматривается в статье «Графен: настоящее формирует будущее» С.Ерина, опубликованной в рубрике «Наноматериалы». Отмечается, что данные технологии эффективны, и не требуют высоких инвестиций в оборудование.
В статье «Центр перспективных технологий: первые 25 лет» И.Яминского предложен ретроспективный взгляд на развитие Научно-производственного предприятия «Центр перспективных технологий» и его продукции: сканирующих зондовых микроскопов, фрезерно-гравировальных станков, 3D-принтеров.
В рубрике «Нанотехнологии» опубликованы статьи «Современным конструкциям – перспективные материалы и технологии» А.Титова и «Закону Мура 50 лет: развитие микронаноэлектроники» В.Вернера, Е.Кузнецова, А.Саурова. В первой рассказывается о передовых разработках ВНИИНМ им. А.А.Бочвара в области модификации поверхностей материалов, во второй – о влиянии закона Мура на развитие микро- и наноэлектроники и его воздействии на изменения в структуре отрасли.
Статья «Стандарты нано- и пикометрового диапазонов на основе мер перемещения» А.Потемкина, П.Лускинович и В.Жаботинского рассказывает о мерах перемещения на основе монокристаллических материалов с обратным пьезоэффектом, которые могут применяться для калибровки сканирующих зондовых и электронных микроскопов.
Ознакомиться с журналом и оформить подписку можно в РИЦ «Техносфера». Тел.: +7 (495) 234-01-10 доб. 183; факс: +7 (495) 956-33-46 (nano@technosphera.ru, сайт журнала – www.nanoindustry.su).
О новых направлениях в исследованиях наноструктур и наноматериалов методами электронной и зондовой микроскопии рассказывается в репортаже о XIX Российском симпозиуме по растровой электронной микроскопии и аналитическим методам исследования твердых тел, который ежегодно проходит в городе Черноголовка (Московская обл.). Другой репортаж посвящен семинару "Системы для контроля, инспекции и НИОКР в электронной промышленности", в рамках которого специалисты группы компаний Industrial Monitoring and Control (IMC Group) представили современные решения для контроля микро- и наноразмерных структур в научных исследованиях и производстве электронных компонентов.
В рубрике «Экспертная оценка» зам. генерального директора компании «Интек Аналитика» Дмитрий Ловцюс, зам. генерального директора компании «Криосистемы» Максим Савинов и руководитель группы инженерных систем инженерного отдела компании «ЭлТех СПб» Дамир Вагизов рассказывают об организации работы сервисной службы в их компаниях, оперативности оказания помощи, применении удаленной диагностики, обслуживании региональных клиентов.
Рубрика «Репортаж из лаборатории» знакомит с работой научной группы Елены Мишиной из МИРЭА, которая с 2004 года реализует комплексные научные программы в области создания новых материалов для микро-, нано- и оптоэлектроники. В частности, очень перспективен проект по сверхбыстрой динамике ферроиков в сотрудничестве Институтом молекул и материалов университета Наймегена (Нидерланды).
Получение графена методами химического и плазмохимического осаждения из газовой фазы рассматривается в статье «Графен: настоящее формирует будущее» С.Ерина, опубликованной в рубрике «Наноматериалы». Отмечается, что данные технологии эффективны, и не требуют высоких инвестиций в оборудование.
В статье «Центр перспективных технологий: первые 25 лет» И.Яминского предложен ретроспективный взгляд на развитие Научно-производственного предприятия «Центр перспективных технологий» и его продукции: сканирующих зондовых микроскопов, фрезерно-гравировальных станков, 3D-принтеров.
В рубрике «Нанотехнологии» опубликованы статьи «Современным конструкциям – перспективные материалы и технологии» А.Титова и «Закону Мура 50 лет: развитие микронаноэлектроники» В.Вернера, Е.Кузнецова, А.Саурова. В первой рассказывается о передовых разработках ВНИИНМ им. А.А.Бочвара в области модификации поверхностей материалов, во второй – о влиянии закона Мура на развитие микро- и наноэлектроники и его воздействии на изменения в структуре отрасли.
Статья «Стандарты нано- и пикометрового диапазонов на основе мер перемещения» А.Потемкина, П.Лускинович и В.Жаботинского рассказывает о мерах перемещения на основе монокристаллических материалов с обратным пьезоэффектом, которые могут применяться для калибровки сканирующих зондовых и электронных микроскопов.
Ознакомиться с журналом и оформить подписку можно в РИЦ «Техносфера». Тел.: +7 (495) 234-01-10 доб. 183; факс: +7 (495) 956-33-46 (nano@technosphera.ru, сайт журнала – www.nanoindustry.su).
Комментарии читателей