eng
Выпуск #7-8/2025
Д.И.Яминский, А.И.Ахметова, И.В.Яминский
МЕТРОЛОГИЯ В СКАНИРУЮЩЕЙ ЗОНДОВОЙ МИКРОСКОПИИ
МЕТРОЛОГИЯ В СКАНИРУЮЩЕЙ ЗОНДОВОЙ МИКРОСКОПИИ
Просмотры: 58
DOI: https://doi.org/10.22184/1993-8578.2025.18.7-8.402.408
Подпишитесь на журнал, чтобы прочитать полную версию статьи.
Подпишитесь на журнал, чтобы прочитать полную версию статьи.
Отзывы читателей
