eng
Выпуск #2/2026
Д.И.Яминский, И.В.Яминский
СКАНИРУЮЩАЯ ТУННЕЛЬНАЯ МИКРОСКОПИЯ: ТОЧНОСТЬ ПЕРЕДАЧИ ВЫСОТЫ НАБЛЮДАЕМОГО РЕЛЬЕФА ОБРАЗЦОВ
СКАНИРУЮЩАЯ ТУННЕЛЬНАЯ МИКРОСКОПИЯ: ТОЧНОСТЬ ПЕРЕДАЧИ ВЫСОТЫ НАБЛЮДАЕМОГО РЕЛЬЕФА ОБРАЗЦОВ
Просмотры: 10
DOI: https://doi.org/10.22184/1993-8578.2026.19.2.96.101
Подпишитесь на журнал, чтобы прочитать полную версию статьи.
Подпишитесь на журнал, чтобы прочитать полную версию статьи.
Отзывы читателей
