Развитие нанотехнологии требует решения проблемы обеспечения единства линейных измерений в нанометровом диапазоне. Для этого необходимо решить проблему создания системы линейных измерений в этом диапазоне с абсолютной привязкой к Первичному эталону единицы длины – метру.

sitemap

Разработка: студия Green Art