eng
C 7 по 9 октября 2015 года на химическом факультете Московского государственного университета им. М.В.Ломоносова состоялся научно-практический семинар, посвященный использованию настольных растровых электронных микроскопов JEOL JCM-6000 (NEOSCOPE II) для решения различных задач науки и производства. Организаторами мероприятия выступили компании "Токио Боэки (РУС)", "ДЖЕОЛ (РУС)" и МГУ им.М.В.Ломоносова. В работе семинара приняло участие более 70 человек из различных вузов России, учреждений Российской академии наук, научно-исследовательских институтов и промышленных предприятий.
DOI:10.22184/1993-8578.2015.61.7.38.39
DOI:10.22184/1993-8578.2015.61.7.38.39
В рамках мероприятия состоялось торжественное открытие практикума по сканирующей электронной микроскопии химического факультета МГУ, где установлены шесть настольных РЭМ JEOL JCM-6000 (NEOSCOPE II), каждый из которых оснащен спектрометром для элементного анализа.
С приветственным словом выступили проректор МГУ А.А.Федянин, декан химического факультета академик В.В.Лунин, ведущий научный сотрудник кафедры физической химии С.В.Савилов, а также генеральный директор ООО "Токио Боэки (РУС)" г-н Такигава и представитель компании JEOL (Япония) г-н Моримото. Выступавшие отметили роль электронной микроскопии в материаловедении и указали на важность обучения студентов и аспирантов современным методам исследований. Химический факультет МГУ первым в России оснастил учебную лабораторию сразу шестью электронными микроскопами JCM-6000 (NEOSCOPE II). Теперь студенты, аспиранты и научные сотрудники всех кафедр смогут научиться работать на РЭМ, самостоятельно выполнять исследования различной сложности. Выступавшие поддержали идею регулярного проведения научно-практических семинаров, которые позволяют участникам не только познакомиться с современным научным оборудованием, но и проверить возможности приборов на своих образцах.
В презентации о продукции компании JEOL г-н Моримото ознакомил слушателей с новыми моделями научного оборудования японской компании. Его коллега, г-н Кадзивара, рассказал о технических возможностях настольного растрового электронного микроскопа JCM-6000 (NEOSCOPE II). Также он поделился опытом использования настольных РЭМ для образовательных целей в вузах и школах Японии.
В рамках практической части каждый участник семинара мог провести исследование образцов под руководством опытного оператора. За два неполных дня работы были изучены морфология рельефа поверхности и локальный элементный состав около сотни различных объектов: керамики, аморфных и кристаллических пленок, минералов, ископаемых организмов, пыльцы растений, ультрадисперсных порошков металлов и их оксидов, шлифов сталей и жаропрочных сплавов, сварных швов и микросхем.
С приветственным словом выступили проректор МГУ А.А.Федянин, декан химического факультета академик В.В.Лунин, ведущий научный сотрудник кафедры физической химии С.В.Савилов, а также генеральный директор ООО "Токио Боэки (РУС)" г-н Такигава и представитель компании JEOL (Япония) г-н Моримото. Выступавшие отметили роль электронной микроскопии в материаловедении и указали на важность обучения студентов и аспирантов современным методам исследований. Химический факультет МГУ первым в России оснастил учебную лабораторию сразу шестью электронными микроскопами JCM-6000 (NEOSCOPE II). Теперь студенты, аспиранты и научные сотрудники всех кафедр смогут научиться работать на РЭМ, самостоятельно выполнять исследования различной сложности. Выступавшие поддержали идею регулярного проведения научно-практических семинаров, которые позволяют участникам не только познакомиться с современным научным оборудованием, но и проверить возможности приборов на своих образцах.
В презентации о продукции компании JEOL г-н Моримото ознакомил слушателей с новыми моделями научного оборудования японской компании. Его коллега, г-н Кадзивара, рассказал о технических возможностях настольного растрового электронного микроскопа JCM-6000 (NEOSCOPE II). Также он поделился опытом использования настольных РЭМ для образовательных целей в вузах и школах Японии.
В рамках практической части каждый участник семинара мог провести исследование образцов под руководством опытного оператора. За два неполных дня работы были изучены морфология рельефа поверхности и локальный элементный состав около сотни различных объектов: керамики, аморфных и кристаллических пленок, минералов, ископаемых организмов, пыльцы растений, ультрадисперсных порошков металлов и их оксидов, шлифов сталей и жаропрочных сплавов, сварных швов и микросхем.
Отзывы читателей
