DOI: 10.22184/NanoRus.2019.12.89.651.653

В статье рассмотрены основные проблемы метрологического обеспечения испытаний при производстве электронной компонентной базы. Выявлены причины данных проблем. Построены рациональные пути решения подобных задач.

sitemap

Разработка: студия Green Art