DOI: 10.22184/1993-8578.2021.14.5.298.310

В аналитическом обзоре рассмотрены особенности радиационного поведения современных субмикронных микроэлектронных приборов при снижении проектных норм, а также перспективы развития обеспечивающей инфраструктуры для радиационных испытаний.

sitemap

Разработка: студия Green Art