eng
DOI: https://doi.org/10.22184/1993-8578.2022.15.2.140.143
У атомно-силового микроскопа есть и другое название – сканирующий силовой микроскоп. При получении изображений с его помощью необходимо использовать обратную связь для контроля силы взаимодействия между зондом и образцом. Как правило, ее нужно поддерживать на минимальном значении, чтобы не деформировать образец и зонд в процессе измерений. Напротив, в нанолитографии и наноиндентировании следует прилагать большую силу, чтобы получить четкий рисунок на поверхности. В данной статье рассматривается, какие силы возникают и сколько энергии затрачивается при возникновении типичного дефекта в виде шестиконечной звезды на графите.
Теги: atomic force microscope defects force curve graphite scanning force microscope атомно-силовой микроскоп графит дефекты силовая кривая сканирующий силовой микроскоп
Подпишитесь на журнал, чтобы прочитать полную версию статьи.
У атомно-силового микроскопа есть и другое название – сканирующий силовой микроскоп. При получении изображений с его помощью необходимо использовать обратную связь для контроля силы взаимодействия между зондом и образцом. Как правило, ее нужно поддерживать на минимальном значении, чтобы не деформировать образец и зонд в процессе измерений. Напротив, в нанолитографии и наноиндентировании следует прилагать большую силу, чтобы получить четкий рисунок на поверхности. В данной статье рассматривается, какие силы возникают и сколько энергии затрачивается при возникновении типичного дефекта в виде шестиконечной звезды на графите.
Теги: atomic force microscope defects force curve graphite scanning force microscope атомно-силовой микроскоп графит дефекты силовая кривая сканирующий силовой микроскоп
Подпишитесь на журнал, чтобы прочитать полную версию статьи.
Отзывы читателей
