sitemap
Наш сайт использует cookies. Продолжая просмотр, вы даёте согласие на обработку персональных данных и соглашаетесь с нашей
Политикой Конфиденциальности
Согласен
главная
eng
Поиск:
на сайте журнала
на всех сайтах РИЦ
Вход
Архив журнала
Журналы
Медиаданные
Редакционная политика
Реклама
Авторам
Контакты
© 2001-2025
РИЦ Техносфера
Все права защищены
Тел. +7 (495) 234-0110
Оферта
R&W
ISSN 1993-8578
ISSN 2687-0282 (online)
Книги по нанотехнологиям
Статьи
Наноиндустрия спецвыпуск/2025
МЕХАНИЧЕСКИЕ ХАРАКТЕРИСТИКИ ПЛЕНОК MoSi2, СФОРМИРОВАННЫХ МАГНЕТРОННЫМ РАСПЫЛЕНИЕМ, ДЛЯ СОЗДАНИЯ ТЕРМОСТАБИЛЬНЫХ МЭМС ИК-ИЗЛУЧАТЕЛЕЙ
Наноиндустрия #7-8/2025
Годовое содержание
Новости
//
все новости
26.11.2025
Итоги Российского форума «Микроэлектроника 2025»
25.11.2025
Новый российский прибор для измерения концентрации и размера наночастиц в жидкости — NP Counter
События
//
все события
c 24.03.2026 до 25.03.2026
Санкт-Петербургский международный экологический форум «Экология большого города»
c 07.04.2026 до 09.04.2026
IPhEB 2026. г. Санкт- Петербург
Вход:
Ваш e-mail:
Пароль:
- запомнить меня
Регистрация
Забыли пароль?
Архив журнала:
2025
2024
2023
2022
2021
2020
2019
2018
2017
2016
2015
2014
2013
2012
2011
2010
2009
2008
2007
Медиаданные:
О журнале
О публикациях
Предметная область и рубрикатор
Редакционная коллегия
Редакционный совет
Распространение
Учредитель
Издатель
План издания
Редакционная политика:
Редакционная политика РИЦ «ТЕХНОСФЕРА»
Редакционная политика журнала "НАНОИНДУСТРИЯ"
Реклама:
В журнале
На сайте
Отдел рекламы
Авторам:
Стратегия оформления
Наукометрия
Соискателям учёной степени
Требования к статьям и рецензирование
Контакты:
Распространение
Адрес
Редакция
Соцсети
Журналы:
Электроника НТБ
Наноиндустрия
Первая миля
Фотоника
Аналитика
Станкоинструмент
Книги по нанотехнологиям
читать книгу
Под ред. Бхушана Б.
Справочник Шпрингера по нанотехнологиям (в 3-х томах), том 3
читать книгу
Под ред. Л.И. Трахтенберга, М.Я. Мельникова
Металл/полупроводник содержащие нанокомпозиты
читать книгу
Кларк Э.Р., Эберхард К.Н.
Микроскопические методы исследования материалов
Другие серии книг:
Мир материалов и технологий
Библиотека Института стратегий развития
Мир квантовых технологий
Мир математики
Мир физики и техники
Мир биологии и медицины
Мир химии
Мир наук о Земле
Мир электроники
Мир программирования
Мир связи
Мир строительства
Мир цифровой обработки
Мир экономики
Мир дизайна
Мир увлечений
Мир робототехники и мехатроники
Для кофейников
Мир радиоэлектроники
Библиотечка «КВАНТ»
Умный дом
Мировые бренды
Вне серий
Библиотека климатехника
Мир транспорта
Мир фотоники
Мир станкостроения
Мир метрологии
Мир энергетики
Книги, изданные при поддержке РФФИ
Тег "comparator"
Электроника НТБ #3/2024
Д. Садеков
СТАНДАРТНЫЕ КОМПОНЕНТЫ ДЛЯ ШИРОКОГО ПРИМЕНЕНИЯ ОТ YOUTAI SEMICONDUCTOR
DOI: 10.22184/1992-4178.2024.234.3.154.157 Компания Youtai Semiconductor известна прежде всего компонентами для систем питания собственной разработки, а также аналогами популярных микросхем известных западных брендов. В продуктовой линейке компании LDO-стабилизаторы, операционные усилители, компараторы, AC/DC- и DC/DC-преобразователи и другие продукты.
Аналитика #1/2021
С. Н. Степанов, А. В. Петров, С. С. Степанов
Разработка компаратора ПКМ 100
DOI: 10.22184/2227-572X.2021.11.1.50.53 Описана конструкция и особенности работы компаратора ПКМ 100, предназначенного для измерения срединной длины и определения отклонения от плоскопараллельности концевых эталонных плоскопараллельных мер длины второго, третьего и четвертого разрядов и рабочих классов точности 1–5 длиной от 0,1 до 100 мм. Подробно описана конструкция кассеты для базирования КМД от 0,5 до 100 мм и схема измерения на компараторе ПКМ 100. Разработана специальная кассета на основе плоской стеклянной пластины ПИ 60 для базирования тонких мер номинальной длиной от 0,1 до 0,5 мм, в которой выполнены каналы для подвода вакуума и надежной фиксации концевых мер с размерами поперечного сечения 20 × 9 и 15 × 5 мм. Приведена методика и результаты поверки компаратора, подтверждающие его технические характеристики, которые позволяют использовать компаратор для поверки концевых мер второго разряда.
Аналитика #2/2020
С. Н. Степанов, С. Б. Тарасов, А. В. Петров, С. С. Степанов
Исследование погрешности измерений компаратора УКМ-100 для поверки концевых мер длины
DOI: 10.22184/2227-572X.2020.10.2.156.160 Проведены оценка погрешности и расчет неопределенности измерений на компараторе УКМ-100 для поверки концевых мер длины. Определены факторы, влияющие на неопределенность измерений, вычислены суммарная стандартная, а также расширенная неопределенность измерений. Перечислены основные технические характеристики компаратора УКМ-100. Описан процесс калибровки компаратора УКМ-100, установлены критерии, приведен протокол измерений.
Наноиндустрия #7/2017
С.Степанов, С.Тарасов, А.Петров, С.Степанов
Исследование погрешности установки УКМ-1000 для поверки концевых мер длины свыше 100 мм
Проведено исследование точности российской установки УКМ-1000 для поверки концевых мер длины свыше 100 мм на основе международной методики Calibration of gauge block comparators. УДК 621.923, ВАК 05.11.01, DOI: 10.22184/1993-8578.2017.78.7.66.70
Наноиндустрия #5/2017
С.Степанов, С.Тарасов, А.Петров, С.Степанов
Исследование погрешности компарации при поверке концевых мер длины на приборе УКМ-100
Проведено исследование точности российского компаратора для поверки концевых мер длины УКМ-100 по международной методике Calibration of gauge block comparators. Показано, что калибровка является более гибким и определенным методом оценки точностных возможностей эталонных приборов, чем применение поверочной схемы. УДК 621.923, ВАК 05.11.01, DOI: 10.22184/1993-8578.2017.76.5.58.61
Разработка: студия
Green Art