sitemap
Наш сайт использует cookies. Продолжая просмотр, вы даёте согласие на обработку персональных данных и соглашаетесь с нашей
Политикой Конфиденциальности
Согласен
главная
eng
Поиск:
на сайте журнала
на всех сайтах РИЦ
Вход
Архив журнала
Журналы
Медиаданные
Редакционная политика
Реклама
Авторам
Контакты
© 2001-2026
РИЦ Техносфера
Все права защищены
Тел. +7 (495) 234-0110
Оферта
R&W
ISSN 1993-8578
ISSN 2687-0282 (online)
Книги по нанотехнологиям
Статьи
Наноиндустрия #1/2026
НОВЫЙ РОССИЙСКИЙ ПРИБОР ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ КОНЦЕНТРАЦИИ И РАЗМЕРА НАНОЧАСТИЦ В ЖИДКОСТИ — NP COUNTER
Наноиндустрия #1/2026
ИССЛЕДОВАНИЕ МЕХАНИЗМА ВОССТАНОВЛЕНИЯ ПОВЕРХНОСТИ МАТЕРИАЛОВ В КОСМОСЕ СОЛНЕЧНЫМ СВЕТОМ
Новости
//
все новости
28.04.2026
В «Тимирязев Центр» состоялось открытие выставки VacuumCryoTech
20.04.2026
Выставка VacuumCryoTech-2026: вакуумные и криогенные технологии и оборудование
События
//
все события
до 21.10.2026
26-я Международная выставка оборудования для неразрушающего контроля NDT Russia 2026. г. Москва
до 29.04.2026
25-я юбилейная специализированная выставка приборов и оборудования для промышленного неразрушающего контроля Дефектоскопия / NDT Санкт-Петербург
Вход:
Ваш e-mail:
Пароль:
- запомнить меня
Регистрация
Забыли пароль?
Архив журнала:
2026
2025
2024
2023
2022
2021
2020
2019
2018
2017
2016
2015
2014
2013
2012
2011
2010
2009
2008
2007
Медиаданные:
О журнале
О публикациях
Предметная область и рубрикатор
Редакционная коллегия
Редакционный совет
Распространение
Учредитель
Издатель
План издания
Редакционная политика:
Редакционная политика РИЦ «ТЕХНОСФЕРА»
Редакционная политика журнала "НАНОИНДУСТРИЯ"
Реклама:
В журнале
На сайте
Отдел рекламы
Авторам:
Стратегия оформления
Наукометрия
Соискателям учёной степени
Требования к статьям и рецензирование
Контакты:
Распространение
Адрес
Редакция
Соцсети
Журналы:
Электроника НТБ
Наноиндустрия
Первая миля
Фотоника
Аналитика
Станкоинструмент
Книги по нанотехнологиям
читать книгу
Головнин В.А., Каплунов И.А., Малышкина О.В., Педько Б.Б., Мовчикова А.А.
Физические основы, методы исследования и практическое применение пьезоматериалов/Электронная книга
читать книгу
Берлин Е.В., Сейдман Л.А.
Получение тонких пленок реактивным магнетронным распылением
читать книгу
Брандон Д., Каплан В.
Микроструктура материалов. Методы исследования и контроля
Другие серии книг:
Мир материалов и технологий
Библиотека Института стратегий развития
Мир квантовых технологий
Мир математики
Мир физики и техники
Мир биологии и медицины
Мир химии
Мир наук о Земле
Мир электроники
Мир программирования
Мир связи
Мир строительства
Мир цифровой обработки
Мир экономики
Мир дизайна
Мир увлечений
Мир робототехники и мехатроники
Для кофейников
Мир радиоэлектроники
Библиотечка «КВАНТ»
Умный дом
Мировые бренды
Вне серий
Библиотека климатехника
Мир транспорта
Мир фотоники
Мир станкостроения
Мир метрологии
Мир энергетики
Книги, изданные при поддержке РФФИ
Тег "durability"
Электроника НТБ #5/2024
В. Соляник, А. Мирошниченко
ВЛИЯНИЕ СТРУКТУРЫ И СВОЙСТВ ТОНКИХ ПЛЕНОК ОСМИЯ НА ЭМИССИОННУЮ СПОСОБНОСТЬ И ДОЛГОВЕЧНОСТЬ КАТОДА
DOI: 10.22184/1992-4178.2024.236.5.98.104 В статье представлен обзор исследований влияния основных параметров металлопористых катодов на их эмиссионную способность и долговечность. Особое внимание уделено тонким пленкам, покрывающим эмиссионную поверхность катода. Рассмотрены режимы ионно-плазменного нанесения тонких пленок и методы исследования физических свойств тонких пленок.
Электроника НТБ #3/2024
Ю. Капшунова, С. Колочков
КОНТАКТИРУЮЩИЕ УСТРОЙСТВА ДЛЯ ТЕСТИРОВАНИЯ И ИСПЫТАНИЙ ЭКБ – НАДЕЖНЫЕ РЕШЕНИЯ ОТ КОМПАНИИ «АЙСИ СОКЕТ»
DOI: 10.22184/1992-4178.2024.234.3.128.130 Компания «АйСи Сокет» является одним из ведущих разработчиков и производителей высококачественных контактирующих устройств для тестирования и испытаний микросхем.
Электроника НТБ #2/2024
А. Строгонов
МЕТОДЫ ПРОГНОЗИРОВАНИЯ ДОЛГОВЕЧНОСТИ ИС ПО ПАРАМЕТРИЧЕСКИМ ОТКАЗАМ
DOI: 10.22184/1992-4178.2024.233.2.88.96 В статье рассмотрены основные методологические подходы, принятые в зарубежной и отечественной инженерных школах в области прогнозирования долговечности ИС по параметрическим отказам.
Электроника НТБ #8/2022
А. Тищенко, А. Мясников, А. Зоркин, О. Тищенко, Е. Горбунова
РЕГУЛИРОВАНИЕ РАБОЧЕЙ ТЕМПЕРАТУРЫ ВТОРИЧНО-ЭМИССИОННОГО КАТОДА
DOI: 10.22184/1992-4178.2022.219.8.82.84 Проведены исследования и определено термическое сопротивление подложки вторично-эмиссионного металлокерамического катода, обеспечивающее оптимальную температуру катода, вследствие чего достигается наибольшая длительность работы катода, а соответственно и долговечность ЭВП.
Электроника НТБ #6/2017
В.Беляев, Д.Суарес
Дисплеи для военного применения: специфика отрасли, современные технологии и вектор развития
Мировыми компаниями накоплен богатый опыт конструирования и производства качественных и надежных дисплеев на основе новейших технологий и с учетом специфических отраслевых требований. УДК 621.397 ВАК 05.27.00 DOI: 10.22184/1992-4178.2017.166.6.52.63
Наноиндустрия #2/2013
В.Лысенко, С.Бардаханов
Влияние наноразмерного диоксида кремния на прочность эпоксидных композитов
Исследуются прочностные свойства композиционного материала на базе эпоксидно-диановой смолы ЭД-20 и полиэтиленполиамина с добавкой наноразмерного диоксида кремния "Таркосил". Эксперименты показали, что такие добавки (до 2%) повышают прочность и упругость композита.
Фотоника #6/2011
С.Белянченко, Г.Изотова, С.Якушов
Российские термостойкие фотоумножители. Состояние и перспективы развития
Компания "МЭЛЗ ФЭУ" производит спектрометрические фотоэлектронные умножители. Разработаны термостойкие ФЭУ, работающие в условиях повышенной температуры окружающей среды в большом интервале температур: от 80 до 200°C.
Разработка: студия
Green Art