sitemap
Наш сайт использует cookies и Яндекс Метрику. Продолжая просмотр, вы даёте согласие на обработку персональных данных и соглашаетесь с нашей
Политикой Конфиденциальности
Согласен
главная
eng
Поиск:
на сайте журнала
на всех сайтах РИЦ
Вход
Архив журнала
Журналы
Медиаданные
Редакционная политика
Реклама
Авторам
Контакты
© 2001-2026
РИЦ Техносфера
Все права защищены
Тел. +7 (495) 234-0110
Оферта
R&W
ISSN 1993-8578
ISSN 2687-0282 (online)
Книги по нанотехнологиям
Статьи
Наноиндустрия #6/2026
АНАЛИЗ ШУМОВ И ПОМЕХ В КИНЕМАТИЧЕСКИХ СХЕМАХ ПРИБОРОВ ДЛЯ ИНСТРУМЕНТАЛЬНОГО ИНДЕНТИРОВАНИЯ
Наноиндустрия #6/2026
СТРУКТУРНЫЕ ИЗМЕНЕНИЯ ПРИ СТАРЕНИИ TiNi С КРУПНОЗЕРНИСТОЙ И УЛЬТРАМЕЛКОЗЕРНИСТОЙ СТРУКТУРОЙ: ПЕРСПЕКТИВЫ ПРИМЕНЕНИЯ В ЭЛАСТОКАЛОРИЧЕСКОМ ОХЛАЖДЕНИИ
Новости
//
все новости
20.10.2026
Ролики с презентаций «ТЕХНОСФЕРЫ» на форуме «Микроэлектроника 2026» уже в сети!
19.10.2026
В Москве открылась выставка Testing & Control: журналы нашего издательства – на стенде F444
События
//
все события
c 16.03.2027 до 18.03.2027
19-я международная специализированная выставка «КОМПОЗИТ-ЭКСПО». г. Москва, МВЦ «Крокус Экспо»
c 16.03.2027 до 18.03.2027
18-я международная специализированная выставка «ПОЛИУРЕТАНЭКС». г. Москва, МВЦ «Крокус Экспо»
Вход:
Ваш e-mail:
Пароль:
- запомнить меня
Регистрация
Забыли пароль?
Архив журнала:
2026
2025
2024
2023
2022
2021
2020
2019
2018
2017
2016
2015
2014
2013
2012
2011
2010
2009
2008
2007
Медиаданные:
О журнале
О публикациях
Предметная область и рубрикатор
Редакционная коллегия
Редакционный совет
Распространение
Учредитель
Издатель
План издания
Редакционная политика:
Редакционная политика РИЦ «ТЕХНОСФЕРА»
Редакционная политика журнала "НАНОИНДУСТРИЯ"
Реклама:
В журнале
На сайте
Отдел рекламы
Авторам:
Стратегия оформления
Наукометрия
Соискателям учёной степени
Требования к статьям и рецензирование
Контакты:
Распространение
Адрес
Редакция
Соцсети
Журналы:
Электроника НТБ
Наноиндустрия
Первая миля
Фотоника
Аналитика
Станкоинструмент
Книги по нанотехнологиям
читать книгу
Головин Д.Ю., Тюрин А.И., Самодуров А.И., Дивин А. Г., Головин Ю.И.; под общей редакцией Ю.И. Головина
Динамические термографические методы неразрушающего экспресс-контроля
читать книгу
Герасименко Н.Н., Пархоменко Ю.Н.
Кремний — материал наноэлектроники
читать книгу
Акчурин Р.Х., Мармалюк А.А.
МОС-гидридная эпитаксия в технологии материалов фотоники и электроники
Другие серии книг:
Мир материалов и технологий
Библиотека Института стратегий развития
Мир квантовых технологий
Мир математики
Мир физики и техники
Мир биологии и медицины
Мир химии
Мир наук о Земле
Мир электроники
Мир программирования
Мир связи
Мир строительства
Мир цифровой обработки
Мир экономики
Мир дизайна
Мир увлечений
Мир робототехники и мехатроники
Для кофейников
Мир радиоэлектроники
Библиотечка «КВАНТ»
Мир микроэлектроники
Умный дом
Мировые бренды
Вне серий
Библиотека климатехника
Мир транспорта
Мир фотоники
Мир станкостроения
Мир метрологии
Мир энергетики
Книги, изданные при поддержке РФФИ
Тег "image analysis"
Наноиндустрия #9/2018
Кондрашов Владимир Владимирович, Чапкин Вячеслав Вячеславович, Лукашенков Анатолий Викторович, Копылов Андрей Валерьевич, Середин Олег Сергеевич
Построение системы моделирования и управления процессом лазерной подгонки пленочных резисторов в микроэлектронике
В статье описано построение системы моделирования и управления процессом лазерной подгонки резистивных элементов на основе сеточных схемных моделей и методов анализа изображений. Подробно рассмотрены подходы к решению задач, возникающих при автоматизации процесса подгонки. УДК 62-5; 004.942; 004.932.2 DOI: 10.22184/1993-8578.2018.82.211.216
Наноиндустрия #2/2016
И.Яминский, А.Филонов, О.Синицына, Г.Мешков
Программное обеспечение "ФемтоСкан Онлайн"
Программное обеспечение "ФемтоСкан Онлайн" предназначено для обработки данных и построения изображений в сканирующей зондовой микроскопии. Одновременно возможности этого программного пакета полезны в электронной и оптической микроскопии. DOI:10.22184/1993-8578.2016.64.2.42.46
Наноиндустрия #4/2012
С.Сомина, Р.Кадушников, А.Разводов
Цифровая микроскопия уходит в онлайн
Переход анализа изображений микроструктуры от традиционных программно-аппаратных комплексов к веб-сервисам способствует повышению эффективности работы специалистов и использования исследовательского оборудования. В статье описывается применение для этих целей веб-сервиса SIAMS Apps.
Фотоника #6/2011
Г.Фишер
Визуализация химического картирования: конфокальная микроскопия комбинационного рассеяния
В статье продемонстрирована возможность получения изображения химического состава живых человеческих клеток, бактерий и лекарственных покрытий с помощью неразрушающей конфокальной рамановской микроскопии. Приведено подробное описание этой технологии и рассмотрены возможности ее применения.
Разработка: студия
Green Art