Наноиндустрия - научно-технический журнал - Материалы тега

главная

eng

Вход

Архив журнала

Журналы

Медиаданные

Редакционная политика

Авторам

Контакты

© 2001-2026
РИЦ Техносфера
Все права защищены
Тел. +7 (495) 234-0110
Оферта

R&W

ISSN 1993-8578
ISSN 2687-0282 (online)

Книги по нанотехнологиям

Тег "metrological support"

Фотоника #3/2018
Т. С. Лисовский
Современные методы измерения оптических характеристик тонкопленочных покрытий

Представлены результаты новейших разработок в области метрологического обеспечения измерений оптических характеристик тонкопленочных покрытий в широком диапазоне электромагнитного спектра от 185 нм до 5200 нм. Показаны технические решения для проведения автоматических измерений коэффициентов пропускания и абсолютного зеркального отражения плоскопараллельных деталей и призм. Представлены результаты реальных измерений покрытий с предельными характеристиками. DOI: 10.22184/1993-7296.2018.71.3.346.351

Станкоинструмент #4/2017
Г. Нуждин, М. Анисимова, Д. Благовещенский
Метрологическое обеспечение инструментального производства

Показано, что в инструментальном производстве может оказаться недостаточно внедрения только требований ГОСТ Р 51672 к метрологическому обеспечению испытаний инструмента. На примере производства ПАО «МИЗ» продемонстрирована целесообразность применения требований ГОСТ Р 8.563 в дополнение к внедренным. DOI: 10.22184/24999407.2017.9.4.58.60

Наноиндустрия #1/2012
K.Gogolinskiy, A.Useinov, A.Kuznetsov, V.Reshetov, S.Golubev
Метрологическое обеспечение измерений линейных размеров в нанометровом диапазоне

В работе обсуждается задача обеспечения прослеживаемости измерений линейных размеров в нанометровом диапазоне сканирующей зондовой микроскопией (СЗМ) к первичному эталону метра. Описывается сканирующий зондовый микроскоп "НаноСкан-3Di" с интегрированным трехкоординатным лазерным гетеродинным интерферометром. Рассмотрены особенности применения сверхострых алмазных наконечников для получения профиля поверхности методами СЗМ в сравнении со стандартными кремниевыми кантилеверами.

← 1

2