Наноиндустрия - научно-технический журнал - Материалы тега

главная

eng

Вход

Архив журнала

Журналы

Медиаданные

Редакционная политика

Авторам

Контакты

© 2001-2025
РИЦ Техносфера
Все права защищены
Тел. +7 (495) 234-0110
Оферта

R&W

ISSN 1993-8578
ISSN 2687-0282 (online)

Книги по нанотехнологиям

Тег "measuring systems"

Наноиндустрия #1/2020
А.С.Усеинов, А.А.Русаков, В.И.Яковлев, Е.В.Гладких
Исследование свойств конструкционных материалов методом инструментального индентирования с помощью портативного нанотвердомера

DOI: 10.22184/1993-8578.2020.13.1.66.73 Разработана модификация нанотвердомера "НаноСкан-4D", позволяющая определять механические свойства изделий методом инструментального индентирования в соответствии с ГОСТ Р 8.748-2011 в условиях, близких к производственным. Основным преимуществом описываемого прибора является возможность работы с широким классом материалов, от металлов до твердых полимеров, поскольку при исследовании механических свойств изделий не требуется предварительная информация о модуле упругости тестируемого материала. Приведены экспериментальные данные, полученные на стандартных образцах: поликарбонате, алюминии и металлических изделиях, используемых в узлах машин и механизмов нефтегазовой отрасли. Измеренные значения твердости совпадают с полученными на лабораторном нанотвердомере с учетом присущих данному типу оборудования погрешностей.

Наноиндустрия #7-8/2019
Б.Г.Турухано, Н.Турухано, В.В.Добырн, Ю.М.Лавров, С.Н.Ханов, О.Г.Ермоленко, Л.А.Константинов, В.Г.Толчин, Н.А.Щипунова
Отечественные голографические наноизмерительные системы линейных и угловых перемещений и система голографической памяти ЛГИИС

Уровень измерительных инструментов для нанодиапазона определяет уровень развития науки и технологии, а в конечном счете – экономику любого развитого государства. Как сказал отец российской метрологии Д.И.Менделеев: "Наука начинается с тех пор, как начинают измерять. Точная наука не мыслима без меры". В данной статье показано, какие результаты достигнуты ЛГИИС в области измерения линейных и угловых перемещений, начиная от фундаментальных исследований до создания конкретных нанометрологических систем с разрешением до 1 нм и 0,01 угл. с. Часть из этих систем не имеют аналогов в мире. DOI: 10.22184/1993-8578.2019.12.7-8.456.459