Наноиндустрия - научно-технический журнал - Материалы тега

главная

eng

Вход

Архив журнала

Журналы

Медиаданные

Редакционная политика

Авторам

Контакты

© 2001-2025
РИЦ Техносфера
Все права защищены
Тел. +7 (495) 234-0110
Оферта

R&W

ISSN 1993-8578
ISSN 2687-0282 (online)

Книги по нанотехнологиям

Тег "дифракционная решетка"

Аналитика #4/2025
А. А. Сырбаков, И. А. Зарубин, А. А. Дзюба, В. А. Лабусов, С. В. Додонов
Зеркала оптической системы спектрометров со скрещенной дисперсией

10.22184/2227-572X.2025.15.4.268.272 Рассмотрены варианты оптических систем спектрометра со скрещенной дисперсией с применением призмы для разделения порядков спектра, использующие разные типы вогнутых зеркал: два сферических зеркала, коллимирующее сферическое и фокусирующее тороидальное зеркала, а также два зеркала свободной формы. С помощью моделирования в программе Zemax исследованы изображения входной щели спектрометра (спектральные линии) в диапазоне 167–810 нм. Показано, что в рассматриваемых вариантах ограничение на высоту входной щели из-за астигматизма одинаковое для всех схем. Построены зависимости спектрального разрешения от длины волны для трех порядков спектра – двух крайних и порядка, содержащего длину волны 200 нм. Полученные графики показывают, что наилучшее разрешение наблюдается при использовании зеркал свободной формы. Однако разрешение в случае использования в схеме сферических зеркал ухудшается не более чем на 10%, и на длине волны 200 нм составляет 7,8 пм.

Наноиндустрия #2/2024
А.И.Ахметова, А.Д.Терентьев, С.А.Сенотрусова, Т.О.Советников, Д.И.Яминский, В.В.Попов, И.В.Яминский
ДИФРАКЦИОННАЯ РЕШЕТКА КАК СРЕДСТВО МЕТРОЛОГИЧЕСКОГО СОПРОВОЖДЕНИЯ МИКРОСКОПИИ

DOI: 10.22184/1993-8578.2024.17.2.128.133 Визуализация биомедицинских образцов в их естественной среде в микро- и наномасштабе имеет решающее значение для изучения фундаментальных принципов функционирования биосистем со сложным взаимодействием. Для изучения динамических биологических процессов требуется микроскопическая система с множеством измерительных возможностей, высоким пространственным и временным разрешением, универсальными средами визуализации и возможностями локального манипулирования. Перспективными инструментами для этих задач являются сканирующая капиллярная микроскопия и микролинзовая микроскопия, однако корректная работа ни одной из этих методик невозможна без метрологического сопровождения. В данной работе демонстрируется возможность использования для этих целей образца дифракционной решетки.