Наноиндустрия - научно-технический журнал - Материалы тега

главная

eng

Вход

Архив журнала

Журналы

Медиаданные

Редакционная политика

Авторам

Контакты

© 2001-2022
РИЦ Техносфера
Все права защищены
Тел. +7 (495) 234-0110
Оферта

ISSN 1993-8578
ISSN 2687-0282 (online)

Книги по нанотехнологиям

Тег "измерение"

Наноиндустрия #9/2018
Головинов Евгений Эдуардович, Аминев Дмитрий Андреевич, Кулаков Виктор Александрович, Бакиров Шамиль Михайлович, Григорьев Павел Валерьевич
Анализ системных решений портативных метеостанций

Проводится аналитический обзор зарубежных и отечественных патентов по погодным метеостанциям. В хронологическом порядке представлено краткое описание изобретений за последнюю четверть века. Описана технология современных метеоизмерений. Рассмотрены основные типы используемых датчиков. Выявлены тенденции усложнения и развития метеокомплексов по ряду ключевых особенностей. УДК 681.3 DOI: 10.22184/1993-8578.2018.82.144.149

Станкоинструмент #1/2015
М.КИСЕЛЕВ, А.КОМШИН, А.СЫРИЦКИЙ
Внедрение измерительно-вычислительных комплексов сопровождения жизненного цикла металлообрабатывающего оборудования и инструмента на основе фазохронометрического метода

В статье рассматриваются проблемы обеспечения жизненного цикла объектов отечественного машиностроения. Проведен анализ некоторых актуальных направлений развития в соответствии с государственными программами развития. На примере внедрения измерительновычислительных технологий на базе фазохронометрического метода показаны возможности решения задач мониторинга, оценки технического состояния оборудования и инструмента, деградационных процессов в конструкционных материалах, определения раннего зарождения дефектов. Приведены экономические расчеты внедрения подобной технологии в станкостроении.

Наноиндустрия #5/2011
И.Магазов, С.Савинов, И.Яминский
Электроника для нанотехнологий

Электронные системы в нанотехнологиях должны позволять обрабатывать большие потоки данных и управлять сложным оборудованием. Для реализации потенциала приборов сканирующей зондовой микроскопии необходимо иметь систему, способную регистрировать и обрабатывать огромное количество информации на высокой скорости, при этом не должна страдать точность измерений.