Электроника НТБ #1/2018
Г. Кузнецов, В. Прибора, А. Фролов
Контроль качества покрытий с помощью рентгенофлуоресцентного анализа
Рассмотрен контроль качества покрытий посредством рентгенофлуоресцентного анализа с использованием энергодисперсионных спектрометров (РФА-ЭДС). Отмечено, что РФА-ЭДС-спектрометры позволяют выполнять автоматизированный контроль качества (толщины) как однослойных, так и многослойных покрытий толщиной от нескольких десятков микрон до десятков нанометров по всей поверхности образца, что важно для повышения эффективности современных производств. УДК 543.427.4 | ВАК 05.11.00 DOI: 10.22184/1992-4178.2018.172.1.92.96
Аналитика #5/2014
С.Корнаби, К.Козачек
Критерии выбора миниатюрных источников рентгеновского излучения на основе диаграмм мощности
Компания Moxtek – производитель компактных источников рентгеновского излучения (РИ), которые используются в карманных и портативных устройствах для рентгенофлуоресцентного анализа (РФА). В статье обсуждаются вопросы, связанные с балансом между мощностью источника и расположением источника с детектором относительно образца для некоторых приложений РФА, а именно: анализа безалюминиевого и алюминиевого сплавов, микро-РФА, РФА легких элементов. Протестированы источники РИ низкой мощности серий ULTRA-LITE (0,1–4 Вт) и MAGPRO (0,2–12 Вт) компании Moxtek. Представлены диаграммы мощности, приведены рекомендации по геометрии установки для каждого приложения, что позволит разработчикам систем РФА размещать компоненты оптимально в каждой конкретной ситуации.
Наноиндустрия #2/2014
А.Шевченко, Г.Ильницкая, Г.Базалий, И.Зайцева
Наноалмазные порошки с высокими магнитными характеристиками
В статье представлены результаты работы по получению наноалмазных порошков с улучшенными магнитными свойствами. Показано, что эффективным способом повышения магнитных характеристик наноалмазов является модификация их поверхности ферромагнитным порошком оксида железа.