Наноиндустрия - научно-технический журнал - Материалы тега

главная

eng

Вход

Архив журнала

Журналы

Медиаданные

Редакционная политика

Авторам

Контакты

© 2001-2025
РИЦ Техносфера
Все права защищены
Тел. +7 (495) 234-0110
Оферта

R&W

ISSN 1993-8578
ISSN 2687-0282 (online)

Книги по нанотехнологиям

Тег "reflectometry"

Фотоника #6/2024
С. Б. Бычков, А. О. Погонышев, С. В. Тихомиров, В. Р. Сумкин
Методы измерения обратных потерь в волоконно-оптических линиях и компонентах

DOI: 10.22184/1993-7296.FRos.2024.18.6.470.484 В статье рассматриваются 3 метода измерения величины обратных потерь (ORL) в волоконно-оптических системах, применяемые в современных измерительных приборах – метод измерений на непрерывном излучении (CW), метод рефлектометрии во временной области (OTDR) и метод рефлектометрии в частотной области (OFDR). Проводится сравнительный анализ этих методов, рассматриваются преимущества и ограничения.

Наноиндустрия #7-8/2020
А.В.Якухина, Д.В.Горелов, А.С.Кадочкин, С.С.Генералов, В.В.Амеличев, В.В.Светухин
Исследование влияния шероховатости боковых стенок световодного слоя из Si3N4 различной толщины на оптические потери в интегральном волноводе, сформированном на кварцевой подложке

DOI: 10.22184/1993-8578.2020.13.7-8.450.457 В настоящей статье представлены результаты исследования влияния шероховатости боковых стенок световодного слоя из нитрида кремния толщиной 100 и 200 нм на оптические потери в интегральных волноводах шириной 3 и 8 мкм. Представлен расчет основных параметров шероховатости боковых стенок световодного слоя, оказывающих наибольшее влияние на оптические потери в волноводе, проведенный методом конечных временных разностей. На основании данного расчета была установлена оптимальная толщина световодного слоя из нитрида, позволяющая удерживать световой поток. За основу расчета при построении модели были взяты данные, полученные в ходе исследования РЭМ-снимков, изготовленных волноводных структур. Результаты приведенных расчетов согласуются с данными, полученными в результате исследования посредством рефлектометрии в частотной области рефлектометра обратного рассеяния изготовленных волноводов с толщиной световодного слоя из нитрида кремния 200 нм и шириной 3 и 8 мкм.

Первая миля #5/2015
С.Глаголев, В.Рудницкий, В.Сумкин, А.Салтыков
Особенности рефлектометрии абонентского участка сети PON

Рассматриваются особенности рефлектометрических измерений в пассивных оптических сетях (PON), обусловленные включением сплиттера и многообразием схем организации абонентских участков

Первая миля #2/2014
А.Васильев
iOLM – революция в рефлектометрическом анализе ВОЛС

Благодаря бурному развитию волоконной связи, рефлектометр стал одним из самых распространённых оптических измерительных приборов. В то же время – и одним из самых сложных в использовании. Технология Link-Aware от компании EXFO, реализованная в системе iOLM, перекладывает трудности выбора параметров измерения и анализа результатов с человека на рефлектометр.