Наноиндустрия - научно-технический журнал - Материалы тега

главная

eng

Вход

Архив журнала

Журналы

Медиаданные

Редакционная политика

Авторам

Контакты

© 2001-2025
РИЦ Техносфера
Все права защищены
Тел. +7 (495) 234-0110
Оферта

R&W

ISSN 1993-8578
ISSN 2687-0282 (online)

Книги по нанотехнологиям

Тег "vector network analyzer"

Электроника НТБ #10/2015
Ж.-П.Гильме
Измерение параметров усилителя мощности в импульсных режимах: использование ВАЦ Anritsu VectorStar

Рассматривается применение векторных анализаторов цепей (ВАЦ) для измерения параметров усилителя мощности в импульсных режимах. Новый метод измерений, реализованный в ВАЦ VectorStar компании Anritsu, повышает точность отслеживания изменений в импульсных выходных сигналах усилителя мощности на базе нитрида галлия.

Электроника НТБ #8/2014
Н.Елисеев, И.Шахнович
Модульные приборы компании Keysight – компактные, производительные, универсальные

В последнее время компания Keysight Technologies активно развивает направление модульных приборов. На прошедшей в октябре 2014 года в Риме выставке, приуроченной к крупнейшему европейскому СВЧ-форуму – European Microwave Week, компания представила ряд новых модульных приборов. Каковы новинки компании Keysight в этой области и в чем преимущества модульного форм-фактора?

Наноиндустрия #3/2014
Ш.Ву
Сканирующая микроволновая микроскопия: уникальный метод измерений в нанодиапазоне

Компания Agilent Technologies разработала новый измерительный метод – сканирующую микроволновую микроскопию (СММ), которая уже удостоена ряда престижных наград. СММ объединяет широкие возможности измерений электрических величин микроволновым векторным анализатором цепей (ВАЦ) с наноразмерным пространственным разрешением атомно-силового микроскопа (АСМ). Этот метод может эффективно применяться при проведении разнообразных исследовательских работ. Ключевые слова: атомно-силовая микроскопия, измерение

← 1

2