sitemap
Наш сайт использует cookies. Продолжая просмотр, вы даёте согласие на обработку персональных данных и соглашаетесь с нашей
Политикой Конфиденциальности
Согласен
главная
eng
Поиск:
на сайте журнала
на всех сайтах РИЦ
Вход
Архив журнала
Журналы
Медиаданные
Редакционная политика
Реклама
Авторам
Контакты
© 2001-2025
РИЦ Техносфера
Все права защищены
Тел. +7 (495) 234-0110
Оферта
R&W
ISSN 1993-8578
ISSN 2687-0282 (online)
Книги по нанотехнологиям
Статьи
Наноиндустрия спецвыпуск/2025
МЕХАНИЧЕСКИЕ ХАРАКТЕРИСТИКИ ПЛЕНОК MoSi2, СФОРМИРОВАННЫХ МАГНЕТРОННЫМ РАСПЫЛЕНИЕМ, ДЛЯ СОЗДАНИЯ ТЕРМОСТАБИЛЬНЫХ МЭМС ИК-ИЗЛУЧАТЕЛЕЙ
Наноиндустрия #7-8/2025
Годовое содержание
Новости
//
все новости
26.11.2025
Итоги Российского форума «Микроэлектроника 2025»
25.11.2025
Новый российский прибор для измерения концентрации и размера наночастиц в жидкости — NP Counter
События
//
все события
c 24.03.2026 до 25.03.2026
Санкт-Петербургский международный экологический форум «Экология большого города»
c 07.04.2026 до 09.04.2026
IPhEB 2026. г. Санкт- Петербург
Вход:
Ваш e-mail:
Пароль:
- запомнить меня
Регистрация
Забыли пароль?
Архив журнала:
2025
2024
2023
2022
2021
2020
2019
2018
2017
2016
2015
2014
2013
2012
2011
2010
2009
2008
2007
Медиаданные:
О журнале
О публикациях
Предметная область и рубрикатор
Редакционная коллегия
Редакционный совет
Распространение
Учредитель
Издатель
План издания
Редакционная политика:
Редакционная политика РИЦ «ТЕХНОСФЕРА»
Редакционная политика журнала "НАНОИНДУСТРИЯ"
Реклама:
В журнале
На сайте
Отдел рекламы
Авторам:
Стратегия оформления
Наукометрия
Соискателям учёной степени
Требования к статьям и рецензирование
Контакты:
Распространение
Адрес
Редакция
Соцсети
Журналы:
Электроника НТБ
Наноиндустрия
Первая миля
Фотоника
Аналитика
Станкоинструмент
Книги по нанотехнологиям
читать книгу
Под ред. Бхушана Б.
Справочник Шпрингера по нанотехнологиям (в 3-х томах), том 3
читать книгу
Под ред. Л.И. Трахтенберга, М.Я. Мельникова
Металл/полупроводник содержащие нанокомпозиты
читать книгу
Кларк Э.Р., Эберхард К.Н.
Микроскопические методы исследования материалов
Другие серии книг:
Мир материалов и технологий
Библиотека Института стратегий развития
Мир квантовых технологий
Мир математики
Мир физики и техники
Мир биологии и медицины
Мир химии
Мир наук о Земле
Мир электроники
Мир программирования
Мир связи
Мир строительства
Мир цифровой обработки
Мир экономики
Мир дизайна
Мир увлечений
Мир робототехники и мехатроники
Для кофейников
Мир радиоэлектроники
Библиотечка «КВАНТ»
Умный дом
Мировые бренды
Вне серий
Библиотека климатехника
Мир транспорта
Мир фотоники
Мир станкостроения
Мир метрологии
Мир энергетики
Книги, изданные при поддержке РФФИ
Тег "микросхема"
Электроника НТБ #6/2025
В. Плебанович, В. Светенкова, В. Гришкевич
ФОТОННАЯ ЭМИССИЯ – ИННОВАЦИОННЫЙ МЕТОД АНАЛИЗА ДЕФЕКТОВ В МИКРОЭЛЕКТРОНИКЕ
DOI: 10.22184/1992-4178.2025.247.6.150.152 Аналитический комплекс «Фотон», разработанный совместно ОАО «Оптоэлектронные системы» и НТЦ «Белмикросистемы», решает проблему выявления скрытых дефектов ИС, таких как структурные дефекты кристаллической решетки, локальные утечки тока и перегрев силовых элементов.
Электроника НТБ #9/2023
Н. Плис, В. Рудаков
ТЕНДЕНЦИИ В ПРОИЗВОДСТВЕ МИКРОСХЕМ В ПЛАСТИКОВЫХ КОРПУСАХ
DOI: 10.22184/1992-4178.2023.230.9.100.109 Рассмотрены эволюция отечественного понятия корпуса микросхемы и предъявляемые к нему новые требования. Предложена классификация корпуса микросхемы по степени герметичности. Из анализа мирового опыта производства и применения микросхем следует, что будущее электронной промышленности за микросхемами в полимерных корпусах.
Электроника НТБ #7/2023
Ш. Шугаепов, Е. Ермолаев, В. Егошин, Е. Магидов
УСТРОЙСТВА КОНТАКТИРУЮЩИЕ И СПУТНИКИ-НОСИТЕЛИ АО «ЗПП» ДЛЯ ИСПЫТАНИЙ МИКРОСХЕМ
DOI: 10.22184/1992-4178.2023.228.7.174.177 Рассмотрено проведение испытаний микросхем с применением электротермотренировки, а также устройства контактирующие и спутники-носители, разрабатываемые Акционерным обществом «Завод полупроводниковых приборов» (АО «ЗПП»).
Электроника НТБ #5/2023
Р. Ермилов, Ш. Шугаепов, Е. Ермолаев, В. Егошин
РАЗРАБОТКА БЕЗВЫВОДНЫХ МЕТАЛЛОКЕРАМИЧЕСКИХ КОРПУСОВ ШИРОКОГО ПРИМЕНЕНИЯ В АО «ЗПП»
DOI: 10.22184/1992-4178.2023.226.5.90.92 Рассмотрено несколько новых безвыводных металлокерамических корпусов широкого применения, разработанных в АО «Завод полупроводниковых приборов» (АО «ЗПП»). Приведена информация об особенностях и характеристиках данных корпусов.
Электроника НТБ #4/2023
Ш. Шугаепов, Е. Ермолаев, В. Егошин, А. Лоскутова, Е. Сабирова
НОВЫЕ МЕТАЛЛОКЕРАМИЧЕСКИЕ КОРПУСА КОМПАНИИ АО «ЗПП»
DOI: 10.22184/1992-4178.2023.225.4.110.113 Рассмотрены характеристики и особенности новых металлокерамических корпусов АО «Завод полупроводниковых приборов» (АО «ЗПП»). Отмечено, что по своим техническим характеристикам эти корпуса находятся на уровне лучших мировых достижений.
Электроника НТБ #8/2022
Ш. Шугаепов, Е. Ермолаев, В. Егошин, Р. Ахметгалиев
МЕТАЛЛОКЕРАМИЧЕСКИЕ КОРПУСА АО «ЗПП» ДЛЯ ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ ПРИБОРОВ И МИКРОСХЕМ СИЛОВОЙ ЭЛЕКТРОНИКИ
DOI: 10.22184/1992-4178.2022.219.8.56.60 Рассмотрены металлокерамические корпуса производства АО «Завод полупроводниковых приборов» (АО «ЗПП») для полупроводниковых приборов и интегральных микросхем силовой электроники. Приведена информация об особенностях и характеристиках этих корпусов.
Электроника НТБ #7/2022
Е. Трудновская, С. Клейн
ОБЗОР ОТЕЧЕСТВЕННЫХ ЦАП ПРОИЗВОДСТВА АО «АНГСТРЕМ»
DOI: 10.22184/1992-4178.2022.218.7.120.127 Рассмотрен ряд новых цифро-аналоговых преобразователей производства АО «Ангстрем». Приведена информация об особенностях и характеристиках данных устройств.
Электроника НТБ #5/2022
Ш. Шугаепов, Е. Ермолаев, В. Егошин, Р. Ахметгалиев, А. Мазуренко
ТЕХНОЛОГИЧЕСКОЕ ОБОРУДОВАНИЕ И МАТЕРИАЛЫ, ПРИМЕНЯЕМЫЕ ДЛЯ ИЗГОТОВЛЕНИЯ МЕТАЛЛОКЕРАМИЧЕСКИХ КОРПУСОВ
DOI: 10.22184/1992-4178.2022.216.5.62.65 Рассмотрены технологическое оборудование и материалы, применяемые в АО «Завод полупроводниковых приборов» (АО «ЗПП») для изготовления металлокерамических корпусов.
Электроника НТБ #2/2022
Н. Нагаев, Ш. Шугаепов, Е. Ермолаев, В. Егошин
СТОЛБИКОВЫЕ ВЫВОДЫ АО «ЗПП» ДЛЯ МАТРИЧНЫХ КОРПУСОВ – ЕЩЕ ОДИН ШАГ К ТЕХНОЛОГИЧЕСКОЙ НЕЗАВИСИМОСТИ
DOI: 10.22184/1992-4178.2022.213.2.94.96 Рассмотрены характеристики, а также особенности технологии монтажа столбиковых выводов, поставляемых АО «Завод полупроводниковых приборов» (АО «ЗПП»). Отмечено, что этот незначительный на первый взгляд элемент конструкции микросхемы способен обеспечить новые горизонты для развития РЭА.
Электроника НТБ #9/2021
А. Иванов, Д. Никишин
ВХОДНОЙ КОНТРОЛЬ МИКРОСХЕМ XILINX VIRTEX-7 С ПОМОЩЬЮ ПЕРИФЕРИЙНОГО СКАНИРОВАНИЯ
DOI: 10.22184/1992-4178.2021.210.9.94.98 Рассмотрено использование периферийного сканирования для реализации входного контроля микросхем Xilinx Virtex-7. Отмечено, что представленные решения могут быть использованы на предприятиях радиоэлектронной промышленности для проведения процедуры входного контроля.
1
2
3
→
Разработка: студия
Green Art