Наноиндустрия #7/2014
Г.Мешков, О.Синицына, Д.Яминский, И.Яминский
Центр молодежного инновационного творчества "Нанотехнологии": конкурсы объявлены!
Центр молодежного инновационного творчества "Нанотехнологии" приглашает школьников, студентов и молодых специалистов инновационных компаний к участию в конкурсах.
Наноиндустрия #6/2014
Д.Соколов
Патентование принципиально новых технологий
Нередко возникает ситуация, когда технология разработана, приносит результаты, но пока не признана научным сообществом. В статье рассматриваются некоторые подходы к защите таких принципиально новых технологий.
Наноиндустрия #6/2014
И.Яминский
ЦМИТ "Нанотехнологии": первые шаги
В сентябре стартовал новый проект МГУ им. М.В.Ломоносова и компании "Центр перспективных технологий" – Центр молодежного инновационного творчества (ЦМИТ) "Нанотехнологии" , созданный при поддержке Департамента науки, промышленной политики и предпринимательства Правительства Москвы и Центра инновационного развития Москвы. За несколько месяцев, прошедших с момента предыдущей публикации о предыстории создания ЦМИТ, коллектив центра перешел от разработки планов и концепций к их реализации.
Наноиндустрия #8/2013
Д.Соколов
У истоков нанотехнологии
Нанотехнология началась с создания сканирующего зондового микроскопа, история появления которого уже публиковалась в журнале. В статье прослеживается развитие технологии, на которую опирается сканирующая зондовая микроскопия, рассматриваются примеры ее патентования.
Наноиндустрия #8/2013
И.Яминский, П.Горелкин, А.Ерофеев,О.Синицына, Г.Мешков
Бионаноскопия в биологии и медицине
Инструменты наноаналитики открывают новые возможности в наблюдении живой природы на уровне молекул. Сверхвысокое разрешение и возможности измерений на воздухе и в жидких средах обуславливают широкие перспективы применения зондовой микроскопии в медицине. В обзоре обсуждается современное контрольно-измерительное оборудование, рассматриваются подложки для работы с биообъектами, обобщаются данные по наблюдению нуклеиновых кислот, белков, бактерий, клеток и тканей животных.
Наноиндустрия #3/2013
А.Гаскаров, И.Яминский
Микроскопия в клинической диагностике. Обнаружение частиц нанометрового размера
Наиболее известны в научной сфере методы наблюдения наночастиц – электронная и сканирующая зондовая микроскопия. Достоинства электронной микроскопии – прямое представление изображения, высокая скорость сканирования, совмещение с различными приставками. Однако она требует работы только с образцами на подложке и в вакууме. Также, в случае непроводящих образцов, необходимо учитывать влияние пространственного заряда.
Наноиндустрия #6/2012
А.Протопопова, А.Большакова, Д.Багров
Первый всероссийский конкурс "Детектив в лаборатории"
Со 2 апреля 2012 года в течение трех недель школьники со всей России принимали участие в первой всероссийской онлайн-игре "Детектив в лаборатории". Конкурс был организован ЗАО "Центр перспективных технологий" совместно со Школьной лигой РОСНАНО и МГУ имени М.В.Ломоносова. Целью конкурса было показать старшеклассникам, что наукой заниматься интересно и совсем нескучно.
Наноиндустрия #6/2012
Г.Мешков, О.Синицына, Д.Яминский, И.Яминский
Динамическая измерительная мера "Нанометр"
Представлено решение динамической измерительной меры нанометра в виде пьезокерамической пластины. Измерительная мера может применяться для калибровки сканирующих зондовых микроскопов, что особенно важно при измерении и анализе данных биомедицинских измерений – изображений белков, комплексов ДНК с белками, вирусных частиц, фрагментов клеток, биомаркеров.
Наноиндустрия #4/2012
А.Протопопова, Е.Дубровин, А.Филонов
Корреляционный анализ в сканирующей зондовой микроскопии
В первую очередь в сканирующей туннельной микроскопии исследователи часто работают с органическими веществами, формирующими высокоупорядоченные тонкие пленки или кристаллические структуры.Такие объекты прекрасно подходят, чтобы получить картинки поверхности с эффектным молекулярным разрешением. Такие изображения допускают построение пространственной модели элементарной ячейки пленки или кристалла. Общая проблема таких изображений – их зашумленность. Чтобы улучшить их качество, используются методы корреляционного анализа.
Наноиндустрия #1/2012
K.Gogolinskiy, A.Useinov, A.Kuznetsov, V.Reshetov, S.Golubev
Метрологическое обеспечение измерений линейных размеров в нанометровом диапазоне
В работе обсуждается задача обеспечения прослеживаемости измерений линейных размеров в нанометровом диапазоне сканирующей зондовой микроскопией (СЗМ) к первичному эталону метра. Описывается сканирующий зондовый микроскоп "НаноСкан-3Di" с интегрированным трехкоординатным лазерным гетеродинным интерферометром. Рассмотрены особенности применения сверхострых алмазных наконечников для получения профиля поверхности методами СЗМ в сравнении со стандартными кремниевыми кантилеверами.