sitemap
Наш сайт использует cookies. Продолжая просмотр, вы даёте согласие на обработку персональных данных и соглашаетесь с нашей
Политикой Конфиденциальности
Согласен
главная
eng
Поиск:
на сайте журнала
на всех сайтах РИЦ
Вход
Архив журнала
Журналы
Медиаданные
Редакционная политика
Реклама
Авторам
Контакты
© 2001-2025
РИЦ Техносфера
Все права защищены
Тел. +7 (495) 234-0110
Оферта
R&W
ISSN 1993-8578
ISSN 2687-0282 (online)
Книги по нанотехнологиям
Статьи
Наноиндустрия спецвыпуск/2025
МЕХАНИЧЕСКИЕ ХАРАКТЕРИСТИКИ ПЛЕНОК MoSi2, СФОРМИРОВАННЫХ МАГНЕТРОННЫМ РАСПЫЛЕНИЕМ, ДЛЯ СОЗДАНИЯ ТЕРМОСТАБИЛЬНЫХ МЭМС ИК-ИЗЛУЧАТЕЛЕЙ
Наноиндустрия #7-8/2025
Годовое содержание
Новости
//
все новости
26.11.2025
Итоги Российского форума «Микроэлектроника 2025»
25.11.2025
Новый российский прибор для измерения концентрации и размера наночастиц в жидкости — NP Counter
События
//
все события
c 24.03.2026 до 25.03.2026
Санкт-Петербургский международный экологический форум «Экология большого города»
c 07.04.2026 до 09.04.2026
IPhEB 2026. г. Санкт- Петербург
Вход:
Ваш e-mail:
Пароль:
- запомнить меня
Регистрация
Забыли пароль?
Архив журнала:
2025
2024
2023
2022
2021
2020
2019
2018
2017
2016
2015
2014
2013
2012
2011
2010
2009
2008
2007
Медиаданные:
О журнале
О публикациях
Предметная область и рубрикатор
Редакционная коллегия
Редакционный совет
Распространение
Учредитель
Издатель
План издания
Редакционная политика:
Редакционная политика РИЦ «ТЕХНОСФЕРА»
Редакционная политика журнала "НАНОИНДУСТРИЯ"
Реклама:
В журнале
На сайте
Отдел рекламы
Авторам:
Стратегия оформления
Наукометрия
Соискателям учёной степени
Требования к статьям и рецензирование
Контакты:
Распространение
Адрес
Редакция
Соцсети
Журналы:
Электроника НТБ
Наноиндустрия
Первая миля
Фотоника
Аналитика
Станкоинструмент
Книги по нанотехнологиям
читать книгу
Вас Гэри С.
Основы радиационного материаловедения. Металлы и сплавы /При финансовой поддержке Федерального агентства по печати и массовым коммуникациям в рамках Федеральной целевой программы «Культура России (2012-2018 годы)»
читать книгу
Альтман Ю.
Военные нанотехнологии. Возможности применения и превентивного контроля вооружений. Издание 2-е, дополненное и исправленное.
читать книгу
Кларк Э.Р., Эберхард К.Н.
Микроскопические методы исследования материалов
Другие серии книг:
Мир материалов и технологий
Библиотека Института стратегий развития
Мир квантовых технологий
Мир математики
Мир физики и техники
Мир биологии и медицины
Мир химии
Мир наук о Земле
Мир электроники
Мир программирования
Мир связи
Мир строительства
Мир цифровой обработки
Мир экономики
Мир дизайна
Мир увлечений
Мир робототехники и мехатроники
Для кофейников
Мир радиоэлектроники
Библиотечка «КВАНТ»
Умный дом
Мировые бренды
Вне серий
Библиотека климатехника
Мир транспорта
Мир фотоники
Мир станкостроения
Мир метрологии
Мир энергетики
Книги, изданные при поддержке РФФИ
Тег "трассировка"
Электроника НТБ #3/2025
А.В. Строгонов, К. Гопенко, А.И. Строгонов
ПРОГРАММНЫЕ ИНСТРУМЕНТЫ САПР VTR 8.1.0 ДЛЯ ИССЛЕДОВАНИЯ НОВЫХ АРХИТЕКТУР ПЛИС
DOI: 10.22184/1992-4178.2025.244.3.192.198 В статье рассмотрены программные инструменты САПР VTR (Verilog-to-Routing) версии 8.1.0 с открытым исходным кодом, разработанные международным научным сообществом для исследования перспективных архитектур ПЛИС по нанопроектным нормам и алгоритмов САПР, таких как логический синтез, упаковка, размещение, трассировка.
Электроника НТБ #1/2020
М. Грихин
Где заказать проектирование печатных плат – фриланс или дизайн-центр?
Описаны характерные черты трудовой деятельности, определяющие ее как фриланс. Проведен анализ преимуществ и недостатков заказа трассировки печатной платы фрилансеру в сравнении с возможностями, которыми располагает для аналогичной работы специализированный дизайн-центр. DOI: 10.22184/1992-4178.2020.192.1.160.162
Электроника НТБ #7/2017
Е.Чириков
Новые возможности Altium Designer 17.1 помогают ускорить работу над проектом
В новой версии популярной системы разработки Altium Designer 17.1 устранены проблемы и ошибки, обнаруженные пользователями, а также реализованы функции, направленные на оптимизацию процесса создания проектной документации и в целом ускорение работы над проектом. УДК 621.3.049 ВАК 05.27.00 DOI: 10.22184/1992-4178.2017.168.7.80.84
Электроника НТБ #5/2016
А.Милн, Д.Робертс
Минимизация фазовых сдвигов сигналов при трассировке цифровых систем-на-кристалле
На примере двух проектов показано, как с помощью инструментов проектирования от компании Synopsys можно автоматизировать процесс трассировки и минимизировать фазовые сдвиги сигналов в соответствии с требованиями спецификации для высокоскоростной памяти DDR3/DDR4.
Наноиндустрия #7/2014
А.Болховитинов
Оптимизация трассировки топологий самосборки чипов и разработки методов самосборки "лабораторий на чипе"
Функции безусловной глобальной или роевой оптимизации могут использоваться для создания профилей тестовых структур, трассировки травления или маршрутизации сигнала в дизайне интегральных схем, а также принципиально не отличимых от них по алгоритмам трассировки топологий лабораторий на чипе.
Разработка: студия
Green Art