sitemap
Наш сайт использует cookies и Яндекс Метрику. Продолжая просмотр, вы даёте согласие на обработку персональных данных и соглашаетесь с нашей
Политикой Конфиденциальности
Согласен
главная
eng
Поиск:
на сайте журнала
на всех сайтах РИЦ
Вход
Архив журнала
Журналы
Медиаданные
Редакционная политика
Реклама
Авторам
Контакты
© 2001-2026
РИЦ Техносфера
Все права защищены
Тел. +7 (495) 234-0110
Оферта
R&W
ISSN 1993-8578
ISSN 2687-0282 (online)
Книги по нанотехнологиям
Статьи
Наноиндустрия #3-4/2026
ПЕРВОЕ В МИРЕ НАБЛЮДЕНИЕ ИЗМЕНЕНИЯ НАНОСТРУКТУРЫ ПОВЕРХНОСТИ МАТЕРИАЛА, С КОСМИЧЕСКОЙ СКОРОСТЬЮ ВСТРЕЧАЮЩЕГО АТМОСФЕРУ В ПРОЦЕССЕ ПАДЕНИЯ НА ЗЕМЛЮ
Наноиндустрия #1/2026
НОВЫЙ РОССИЙСКИЙ ПРИБОР ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ КОНЦЕНТРАЦИИ И РАЗМЕРА НАНОЧАСТИЦ В ЖИДКОСТИ — NP COUNTER
Новости
//
все новости
02.06.2026
Открыта регистрация на Pharmtech & Ingredients - ключевую выставку фармацевтического производства!
02.06.2026
На форуме «Микроэлектроника 2026» пройдет обсуждение перспектив использования полярных материалов в микро- и наноэлектронике
События
//
все события
до 21.10.2026
26-я Международная выставка оборудования для неразрушающего контроля NDT Russia 2026. г. Москва
c 16.09.2026 до 18.09.2026
19-я международная специализированная выставка «Термообработка – 2026». г. Москва
Вход:
Ваш e-mail:
Пароль:
- запомнить меня
Регистрация
Забыли пароль?
Архив журнала:
2026
2025
2024
2023
2022
2021
2020
2019
2018
2017
2016
2015
2014
2013
2012
2011
2010
2009
2008
2007
Медиаданные:
О журнале
О публикациях
Предметная область и рубрикатор
Редакционная коллегия
Редакционный совет
Распространение
Учредитель
Издатель
План издания
Редакционная политика:
Редакционная политика РИЦ «ТЕХНОСФЕРА»
Редакционная политика журнала "НАНОИНДУСТРИЯ"
Реклама:
В журнале
На сайте
Отдел рекламы
Авторам:
Стратегия оформления
Наукометрия
Соискателям учёной степени
Требования к статьям и рецензирование
Контакты:
Распространение
Адрес
Редакция
Соцсети
Журналы:
Электроника НТБ
Наноиндустрия
Первая миля
Фотоника
Аналитика
Станкоинструмент
Книги по нанотехнологиям
читать книгу
Головнин В.А., Каплунов И.А., Малышкина О.В., Педько Б.Б., Мовчикова А.А.
Физические основы, методы исследования и практическое применение пьезоматериалов/Электронная книга
читать книгу
Суминов И.В.,Белкин П.Н., Эпельфельд А.В., Людин В.Б., Крит Б.Л., Борисов A.M.
Плазменно-электролитическое модифицирование поверхности металлов и сплавов. В 2-х томах. Т.2
читать книгу
Под редакцией д.т.н., профессора Мальцева П.П.
Нанотехнологии. Наноматериалы. Наносистемная техника-2008
Другие серии книг:
Мир материалов и технологий
Библиотека Института стратегий развития
Мир квантовых технологий
Мир математики
Мир физики и техники
Мир биологии и медицины
Мир химии
Мир наук о Земле
Мир электроники
Мир программирования
Мир связи
Мир строительства
Мир цифровой обработки
Мир экономики
Мир дизайна
Мир увлечений
Мир робототехники и мехатроники
Для кофейников
Мир радиоэлектроники
Библиотечка «КВАНТ»
Умный дом
Мировые бренды
Вне серий
Библиотека климатехника
Мир транспорта
Мир фотоники
Мир станкостроения
Мир метрологии
Мир энергетики
Книги, изданные при поддержке РФФИ
Тег "моделирование"
Наноиндустрия #5/2019
М.Г.Мустафаев, Д.Г.Мустафаева, Г.А.Мустафаев
Воспроизводимость и стабильность технологии и параметров структур микроэлектронных приборов
DOI: 10.22184/1993-8578.2019.12.5.256.259 Рассмотрены технологические подходы, обеспечивающие достижение заданного уровня точности и стабильности технологических операций, формирование приборных структур с заданными параметрами и приборов на их основе.
Электроника НТБ #6/2019
А. Глинкин, К. Никеев, Б. Филипов
Решения Mentor, a Siemens Business. Часть 2
DOI: 10.22184/1992-4178.2019.187.6.140.148 В статье приводятся краткие сведения обо всех инструментах, выпускаемых компанией Mentor Graphics. Во второй части материала представлены средства проектирования и анализа печатных плат. DOI: 10.22184/1992-4178.2019.187.6.140.148
Электроника НТБ #5/2019
Д. Лобзов, А. Лохов
Решения Mentor, a Siemens Business для проектирования ИС и печатных плат
Часть 1 В статье приведены краткие сведения обо всех средствах проектирования ИС и печатных плат, выпускаемых компанией Mentor Graphics. В первой части представлены инструменты проектирования, моделирования и верификации цифровых, аналоговых и аналого-цифровых ИС.
Электроника НТБ #9/2018
Ю. Горячкин, А. Однолько
Моделирование интегральных магнитотранзисторов, формируемых в рамках КМОП-технологии
Рассмотрено моделирование двухколлекторных магнитотранзисторов с горизонтальным и вертикальным расположением коллекторов. Приведены параметры магнитотранзисторов, оптимальные для их применения в составе магниточувствительных микросхем. УДК 621.382:004.94 | ВАК 05.13.18 DOI: 10.22184/1992-4178.2018.180.9.108.113
Фотоника #7/2018
Г. А. Мустафаев, В. А. Панченко, А. Г. Мустафаев, Н. В. Черкесова
Оптические свойства гетероструктуры на основе полупроводников AlN / GaN
Современные технологии создания гетероструктур на основе твердых растворов полупроводниковых нитридов позволяют получать высокоэффективные светоизлучающие диоды. Нитриды алюминия и галлия, а также твердые растворы на их основе являются перспективными материалами для оптоэлектронных устройств фиолетовой области спектра. Проведено исследование оптических свойств многослойной гетероструктуры на основе широкозонных полупроводников AlN / GaN. Моделирование проводилось с использованием математического пакета программ MathCad. Полученные результаты позволяют формировать интегральные структуры, излучающие несколько длин волн, совокупность которых позволяет увеличить дифференциальную квантовую эффективность светодиода в ультрафиолетовой области спектра. Предложена структура источника излучения с длинами волны в окрестностях 278 и 317 нм. DOI: 10.22184/1993-7296.2018.12.7.680.683
Электроника НТБ #8/2018
Н. Нагаев
Тенденции развития металлокерамических корпусов
Рассмотрены основные тенденции развития конструкций металлокерамических корпусов (МКК). Приведены примеры МКК, разрабатываемых в АО «ЗПП» с учетом этих тенденций. DOI: 10.22184/1992-4178.2018.179.8.114.121 УДК 621.3.049.7 | ВАК 05.27.01
Наноиндустрия #9/2018
Аваков Сергей Мирзоевич, Плебанович Владимир Иванович
Безмасковая литография
Наряду с массовым производством все чаще возникает потребность в индивидуальном подходе при производстве интегральных микросхем (ИМС). Десятилетиями складывающаяся технология производства ИМС не подразумевает индивидуального производства. Наличие фотошаблона (маски) подразумевает многократное повторение одного и того же изделия. Появление многолучевых сканирующих генераторов изображений позволило серьезно подойти к освоению технологии безмасочной литографии. УДК 621.38, ВАК 05.27.06 DOI: 10.22184/1993-8578.2018.82.200.202
Электроника НТБ #1/2018
А. Акулин
Моделирование и расширенный анализ схем в PSpice 2017 Часть 2
Рассмотрены особенности новой версии симулятора аналоговых и аналого-цифровых схем PSpice от Cadence с опцией расширенного анализа PSpice Advanced Analysis УДК 004.942 | ВАК 05.27.00 DOI: 10.22184/1992-4178.2018.172.1.126.131
Аналитика #1/2018
Р.Рамлау, Ю.Грин, Х.Савада
Микроскопия интерметаллических клатратов с атомным разрешением
Описана установка электронного микроскопа Grand ARM с системой двойной коррекции аберраций в режимах STEM и TEM, которая открыла новые горизонты возможностей для изучения множества интерметаллических соединений с очень сложной, но красивой структурой. Интерметаллические клатраты являются ярким примером таких соединений и прекрасным объектом для исследований с максимальным разрешением. Первые результаты получены для боросилицида калия со структурой типа клатрат-I. УДК 620.187; ВАК 01.04.18 DOI: 10.22184/2227-572X.2018.38.1.58.62
Электроника НТБ #10/2017
А.Акулин, А.Супонин
Моделирование и расширенный анализ схем в PSpice 2017
Рассмотрены ключевые особенности и расширенные возможности симулятора аналоговых и аналого-цифровых схем PSpice от Cadence, а также преимущества, которые получает при его использовании разработчик. DOI: 10.22184/1992-4178.2017.171.10.82.91
←
1
2
3
4
→
Разработка: студия
Green Art