sitemap
Наш сайт использует cookies. Продолжая просмотр, вы даёте согласие на обработку персональных данных и соглашаетесь с нашей
Политикой Конфиденциальности
Согласен
главная
eng
Поиск:
на сайте журнала
на всех сайтах РИЦ
Вход
Архив журнала
Журналы
Медиаданные
Редакционная политика
Реклама
Авторам
Контакты
© 2001-2026
РИЦ Техносфера
Все права защищены
Тел. +7 (495) 234-0110
Оферта
R&W
ISSN 1993-8578
ISSN 2687-0282 (online)
Книги по нанотехнологиям
Статьи
Наноиндустрия #1/2026
НОВЫЙ РОССИЙСКИЙ ПРИБОР ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ КОНЦЕНТРАЦИИ И РАЗМЕРА НАНОЧАСТИЦ В ЖИДКОСТИ — NP COUNTER
Наноиндустрия #1/2026
ОПЫТ ПРИМЕНЕНИЯ ОТКРЫТОЙ БИБЛИОТЕКИ ГРАДИЕНТНОГО БУСТИНГА CATBOOST НА ЭТАПЕ ТРАССИРОВКИ В РАМКАХ ФИЗИЧЕСКОГО СИНТЕЗА НА ОСНОВЕ ПЛИС
Новости
//
все новости
07.04.2026
В ВК «Тимирязев Центр» начала свою работу выставка «СВЯЗЬ 2026»
03.04.2026
«ТЕХНОСФЕРА» на выставке «Аналитике Экспо»: бесплатный вход по промокоду Analitika
События
//
все события
c 22.04.2026 до 24.04.2026
8-я Международная специализированная выставка «Композит-Экспо». г. Москва
c 22.04.2026 до 24.04.2026
7-я международная специализированная выставка «ПОЛИУРЕТАНЭКС». г. Москва
Вход:
Ваш e-mail:
Пароль:
- запомнить меня
Регистрация
Забыли пароль?
Архив журнала:
2026
2025
2024
2023
2022
2021
2020
2019
2018
2017
2016
2015
2014
2013
2012
2011
2010
2009
2008
2007
Медиаданные:
О журнале
О публикациях
Предметная область и рубрикатор
Редакционная коллегия
Редакционный совет
Распространение
Учредитель
Издатель
План издания
Редакционная политика:
Редакционная политика РИЦ «ТЕХНОСФЕРА»
Редакционная политика журнала "НАНОИНДУСТРИЯ"
Реклама:
В журнале
На сайте
Отдел рекламы
Авторам:
Стратегия оформления
Наукометрия
Соискателям учёной степени
Требования к статьям и рецензирование
Контакты:
Распространение
Адрес
Редакция
Соцсети
Журналы:
Электроника НТБ
Наноиндустрия
Первая миля
Фотоника
Аналитика
Станкоинструмент
Книги по нанотехнологиям
читать книгу
Уорден К.
Новые интеллектуальные материалы и конструкции. Свойства и применение
читать книгу
А.О. Жигачев, Ю.И. Головин, А.В. Умрихин, В.В Коренков, А.И. Тюрин, В.В. Родаев, Т.А. Дьячек, Б.Я. Фарбер / Под общей редакцией Ю.И. Головина
Высокотехнологичная наноструктурная керамика на основе диоксида циркония. Издание 2-е, дополненное и исправленное
читать книгу
Под ред. Л.И. Трахтенберга, М.Я. Мельникова
Металл/полупроводник содержащие нанокомпозиты
Другие серии книг:
Мир материалов и технологий
Библиотека Института стратегий развития
Мир квантовых технологий
Мир математики
Мир физики и техники
Мир биологии и медицины
Мир химии
Мир наук о Земле
Мир электроники
Мир программирования
Мир связи
Мир строительства
Мир цифровой обработки
Мир экономики
Мир дизайна
Мир увлечений
Мир робототехники и мехатроники
Для кофейников
Мир радиоэлектроники
Библиотечка «КВАНТ»
Умный дом
Мировые бренды
Вне серий
Библиотека климатехника
Мир транспорта
Мир фотоники
Мир станкостроения
Мир метрологии
Мир энергетики
Книги, изданные при поддержке РФФИ
Тег "sclerometry"
Наноиндустрия #7/2013
А.Усеинов, К.Кравчук, И.Маслеников
Индентирование. Измерение твердости и трещиностойкости покрытий
Свойства алмазоподобных пленок углерода – эпитаксиальных слоев микро- и нанокристаллического алмаза, а также аморфных пленок углерода зависят от состава и структуры и могут изменяться в широких пределах. Алмазоподобные углеродные покрытия обладают рядом уникальных свойств: высокой твердостью и износостойкостью, низким коэффициентом трения, коррозионной стойкостью. Интерес к гетероструктурам алмазоподобных пленок углерода обусловлен перспективами использования их в качестве защитных и упрочняющих покрытий микро- и наноэлектромеханических систем. В статье рассматриваются способы определения механических характеристик тонкопленочных покрытий с применением индентирования и склерометрии. Выполнено сравнение адекватности различных моделей для оценки результатов измерений.
Наноиндустрия #6/2010
А.Усеинов, С.Усеинов
Измерение механических свойств методом царапания
Одним из способов оценки механических свойств материалов является царапание (метод склерометрии). С середины 80‑х годов прошлого века развитие и применение этого метода практически прекратилось. Это в значительной степени связано с появлением и распространением метода измерительного индентирования [1, 2]. Однако при наномасштабных измерениях метод царапания имеет ряд преимуществ и составляет достойную конкуренцию индентированию.
Разработка: студия
Green Art