eng
Выпуск #3-4/2025
И.В.Лактионов, А.С.Усеинов, С.А.Вотяков, В.Н.Решетов, Г.Х.Султанова
NANOSCAN SPECTROINDENTER: НОВЫЙ ПОДХОД К НАНОМЕХАНИЧЕСКИМ ИСПЫТАНИЯМ, ИНТЕГРИРОВАННЫМ В РАМАНОВСКИЕ МИКРОСКОПЫ
NANOSCAN SPECTROINDENTER: НОВЫЙ ПОДХОД К НАНОМЕХАНИЧЕСКИМ ИСПЫТАНИЯМ, ИНТЕГРИРОВАННЫМ В РАМАНОВСКИЕ МИКРОСКОПЫ
Просмотры: 1141
DOI: https://doi.org/10.22184/1993-8578.2025.18.3-4.234.238
Представлена конструкция измерительного модуля NanoScan SpectroIndenter, предназначенного для интеграции нанотвердомера с серийным рамановским микроскопом на примере модели Renishaw InVia. Инновационная инверсная компоновка устройства приложения нагрузки позволяет выполнять одновременно синхронизированные во времени измерения механических и оптических (структурных) характеристик. Приведены конструктивные особенности модуля и технологические преимущества при исследовании как прозрачных, так и непрозрачных материалов.
Представлена конструкция измерительного модуля NanoScan SpectroIndenter, предназначенного для интеграции нанотвердомера с серийным рамановским микроскопом на примере модели Renishaw InVia. Инновационная инверсная компоновка устройства приложения нагрузки позволяет выполнять одновременно синхронизированные во времени измерения механических и оптических (структурных) характеристик. Приведены конструктивные особенности модуля и технологические преимущества при исследовании как прозрачных, так и непрозрачных материалов.
Теги: deformation nanoindentation spectrometer transparent indenter деформация наноиндентирование прозрачный индентор спектрометр
Получено: 25.04.2025 г. | Принято: 30.04.2025 г. | DOI: https://doi.org/10.22184/1993-8578.2025.18.3-4.234.238
Научная статья
NanoScan SpectroIndenter: новый подход к наномеханическим испытаниям, ИНТЕГРИРОВАННЫМ В РАМАНОВСКИЕ МИКРОСКОПЫ
И.В.Лактионов1, инж., ORCID: 0000-0002-8576-3669 / box@ilaktionov.ru
А.С.Усеинов2, к.ф.-м.н., зам. дир., ORCID: 0000-0002-9937-0954
С.А.Вотяков2, мл. науч. сотр., ORCID: 0009-0007-9155-2853
В.Н.Решетов1, д.ф.-м.н., проф., доц., ORCID: 0000-0002-8426-5991
Г.Х.Султанова1, инж., ORCID: 0000-0002-4770-5724
Аннотация. Представлена конструкция измерительного модуля NanoScan SpectroIndenter, предназначенного для интеграции нанотвердомера с серийным рамановским микроскопом на примере модели Renishaw InVia. Инновационная инверсная компоновка устройства приложения нагрузки позволяет выполнять одновременно синхронизированные во времени измерения механических и оптических (структурных) характеристик. Приведены конструктивные особенности модуля и технологические преимущества при исследовании как прозрачных, так и непрозрачных материалов.
Ключевые слова: прозрачный индентор, деформация, спектрометр, наноиндентирование
Для цитирования: И.В. Лактионов, А.С. Усеинов, С.А. Вотяков, В.Н. Решетов, Г.Х. Султанова. NanoScan Spectroindenter: новый подход к наномеханическим испытаниям, интегрированным в рамановские микроскопы. НАНОИНДУСТРИЯ. 2025. Т. 18. № 3–4. С. 234–238. https://doi.org/10.22184/1993-8578.2025.18.3-4.234.238.
Received: 25.04.2025 | Accepted: 30.04.2025 | DOI: https://doi.org/10.22184/1993-8578.2025.18.3-4.234.238
Original paper
NanoScan SpectroIndenter: a new approach to nanomechanical testing INTEGRATED in RAMAN MICROSCOPES
I.V.Laktionov1, Engineer, ORCID: 0000-0002-8576-3669 / box@ilaktionov.ru
A.S.Useinov2, Cand. of Sci. (Physics and Mathematics), Deputy Director, ORCID: 0000-0002-9937-0954
S.A.Votyakov2, Junior Researcher, ORCID: 0009-0007-9155-2853
V.N.Reshetov1, Doct. of Sci. (Physics and Mathematics), Prof., Docent., ORCID: 0000-0002-8426-5991
G.H.Sultanova1, Engineer, ORCID: 0000-0002-4770-5724
Abstract. The design of the NanoScan SpectroIndenter measurement module for integrating a nanohardness tester with a commercially available Raman microscope is presented, using the Renishaw InVia model as an example. An innovative inverse load device layout allows simultaneous time-synchronized measurements of mechanical and optical (structural) characteristics. The design features of the module and its technological advantages for the examination of both transparent and opaque materials are presented.
Keywords: transparent indenter, deformation, spectrometer, nanoindentation
For citation: I.V. Laktionov, A.S. Useinov, S.A. Votyakov, V.N. Reshetov, G.H. Sultanova. NanoScan Spectroindenter: a new approach to nanomechanical testing integrated in Raman microscopes. NANOINDUSTRY. 2025. Vol. 18. No. 3–4. PP. 234–238. https://doi.org/10.22184/1993-8578.2025.18.3–4.234.238.
ВВЕДЕНИЕ
Современные методы исследования материалов все чаще требуют совмещения различных физических подходов в рамках одного экспериментального стенда. Одним из наиболее перспективных направлений в этой области является интеграция механических испытаний с оптическими и спектральными методами анализа [1–3]. Такое сочетание позволяет получать комплексную информацию о локальных свойствах материала под нагрузкой, включая как упруго-пластические характеристики, так и данные о фазовом составе, кристаллической структуре и химических изменениях в зоне контакта [4, 5].
Модуль нанотвердомера NanoScan SpectroIndenter разработан специально для совместной работы с рамановскими микроскопами фирмы Renishaw и обеспечивает выполнение механических испытаний непосредственно в фокусе оптического объектива. Особенность модуля заключается в его полной совместимости со штатной механикой и программным обеспечением спектрометра, что позволяет избежать сложных процедур сопряжения и обеспечивает воспроизводимость экспериментов. Это достигается благодаря оригинальной конструкции крепления за внешний металлический стакан, повторяющий геометрию типовых держателей образцов.
Центральным элементом измерительного модуля нанотвердомера является уникальный алмазный индентор-объектив [6], совмещающий функции механического нагружения и оптического наблюдения. Индентор выполнен из прозрачного монокристаллического алмаза, отполированного таким образом, чтобы минимизировать эффекты полного внутреннего отражения. Его особая геометрия позволяет не только точно фокусировать лазерный луч в зоне контакта, но и регистрировать обратное рассеяние, включая спектры комбинационного рассеяния [7]. Такой подход обеспечивает прямую визуализацию и спектроскопию деформируемой области материала в процессе нагружения, что является важнейшим преимуществом по сравнению с классическими схемами, основанными на последовательных измерениях.
РЕЗУЛЬТАТЫ
Компоновка модуля и механическая структура
Центральным элементом конструкции (рис.1) является жесткий металлический цилиндрический корпус, выполняющий функции несущей рамы. Именно за него осуществляется крепление устройства к спектрометру Renishaw. Выбор такого способа установки обусловлен конструкцией штатного держателя образцов спектрометра, представляющего собой моторизованный стол с возможностью пространственного позиционирования. Это решение позволило сохранить полную совместимость модуля с оригинальным программным обеспечением Renishaw, избежав необходимости создавать интерфейсы сопряжения двух независимых систем.
Само устройство реализует инверсную компоновку: весь механизм нагружения, включающий электромагнитный привод и систему датчиков, расположен ниже исследуемого образца. Рабочая поверхность образца ориентирована вверх, в сторону алмазного индентора, совмещенного с оптической системой. Такая схема позволила не только повысить стабильность измерений, исключив боковые смещения образца, но и обеспечить прямую видимость зоны контакта через объектив микроскопа.
Основное перемещение при внедрении реализуется за счет вертикального движения индентора, тогда как макропозиционирование образца по высоте осуществляется отдельно. Подобная схема обеспечивает стабильную кинематику при индентировании и позволяет точно наводить лазер спектрометра непосредственно на центр отпечатка.
Система нагружения, измерений и платформа образца
Верхняя часть модуля нанотвердомера содержит алмазный индентор-объектив, зафиксированный в металлической оправе и установленный в алюминиевый стакан (рис.2). Этот элемент связан с центральной подвижной обкладкой емкостного датчика и катушкой электромагнитного актуатора. Такая компоновка обеспечивает высокую жесткость системы, минимизируя люфты при работе с малыми нагрузками. Наружные обкладки закреплены на жестком металлическом стержне, поддерживающем стабильность измерительной геометрии.
Подвижная часть устройства подвешена на паре плоских упругих мембран, допускающих исключительно вертикальные перемещения. Это критически важно для контроля глубины внедрения и обеспечивает точное воспроизведение траектории нагружения. Несмотря на возросшую массу подвижной части, по сравнению с классическими нанотвердомерами, компактность конструкции сохранена, что позволяет вписать модуль в порт под предметным столиком стандартного рамановского микроскопа. Платформа для образца реализована в виде Г-образного столика, перемещаемого шаговым двигателем с винтовой передачей по роликовым направляющим. Такая схема обеспечивает надежное и точное позиционирование образца, включая макроскопическую подстройку высоты. Столик может быть выдвинут для удобной замены образца, не затрагивая основной конструкции модуля.
Также предусмотрена возможность быстрой замены инденторов: съемный узел крепления позволяет менять тип огранки или форму индентора в зависимости от задач эксперимента. Благодаря этому модуль подходит как для испытаний мягких полимеров, так и для анализа твердых кристаллов и покрытий. В целом, конструкция продумана с учетом модульности, что упрощает адаптацию системы к разным условиям эксплуатации.
Технологические и научные преимущества интеграции
Использование модуля нанотвердомера NanoScan SpectroIndenter позволяет выполнять спектральный анализ средствами рамановского микроскопа непосредственно в процессе механического нагружения. Такое совмещение открывает новые возможности для исследования поведения материала в режиме реального времени. Пользователь получает доступ как к традиционным механическим характеристикам (модуль упругости, глубина проникновения, работа деформации), так и к спектрам комбинационного рассеяния, чувствительным к фазовым и структурным преобразованиям.
Наиболее значимым преимуществом модуля является его способность работать с оптически прозрачными и непрозрачными образцами без искажения оптического сигнала. Это достигается за счет специальной геометрии индентора-объектива, которая минимизирует полное внутреннее отражение и обеспечивает прямой проход лазера в зону контакта. Таким образом, становится возможным картографирование напряжений, фаз и химических изменений с разрешением порядка 1 мкм.
ОБСУЖДЕНИЕ
Сравнение с аналогами, основанными на интеграции инденторов в СЭМ, показывает, что предлагаемая схема избавлена от ограничений вакуумной среды и позволяет наблюдать процессы "вживую", в условиях, близких к эксплуатации. Это особенно важно для биоматериалов, полимеров и многослойных систем. Разработанная конструкция уже применена при анализе кремниевых структур, покрытий и композиционных материалов [8, 9].
ВЫВОДЫ
Предложенная конструкция модуля нанотвердомера NanoScan SpectroIndenter демонстрирует высокую степень интеграции с существующей оптической инфраструктурой серийных рамановских микроскопов. Обеспечена как метрологическая точность, так и гибкость в работе с различными образцами. Реализация совмещенной диагностики открывает новые перспективы в области материаловедения и спектрального анализа. Модуль доказал свою работоспособность и пригодность к масштабированию. Компактная конструкция позволяет применять данный модуль не только в приборах Renishaw, но и других рамановских микроскопах, имеющих достаточное пространство под предметным столиком для размещения образцов. Развитие проекта включает оптимизацию систем подвода, автоматизацию процедуры съема и позиционирования образца, а также расширение диапазона нагрузок и частотной чувствительности спектральных измерений.
ИНФОРМАЦИЯ О РЕЦЕНЗИРОВАНИИ
Редакция благодарит анонимного рецензента (рецензентов) за их вклад в рецензирование этой работы, а также за размещение статей на сайте журнала и передачу их в электронном виде в НЭБ eLIBRARY.RU.
Декларация о конфликте интересов. Авторы заявляют об отсутствии конфликтов интересов или личных отношений, которые могли бы повлиять на работу, представленную в данной статье.
ЛИТЕРАТУРА / REFERENCES
Lee J. Structural heterogeneity of pharmaceutical compacts probed by micro-indentation // Journal of Materials Science: Materials in Medicine. 2008. Vol. 19. No. 5. PP. 1981–1990.
Wang M., Wu J., Zhan X., Guo R., Hui Y., Fan H. On the determination of the anisotropic plasticity of metal materials by using instrumented indentation. Materials & Design. 2016. Vol. 111. PP. 98–107.
Feng C., Kang B.S. A Transparent Indenter Measurement Method for Mechanical Property Evaluation // Experimental Mechanics. 2006. Vol. 46. No. 1. PP. 91–103.
Gerbig Y.B., Michaels C.A., Forster A.M., Cook R.F. In situ observation of the indentation-induced phase transformation of silicon thin films. Physical Review B. 2012. Vol. 85. No. 10. P. 104102.
Kassir-Bodon A., Deschamps T., Martinet C., Champagnon B., Teisseire J., Kermouche G. Raman Mapping of the Indentation-Induced Densification of a Soda-Lime-Silicate Glass. International Journal of Applied Glass Science. 2012. Vol. 3. No. 1. PP. 29–35.
Maslenikov I.I., Useinov A.S., Doronin M.A., Reshetov V.N. In Situ Surface Imaging Through a Transparent Diamond Tip. Instruments and Experimental Techniques. 2018. Vol. 61. No. 5. PP. 719–724. https://doi.org/10.1134/S002044121804022X
Useinov A., Reshetov V., Gusev A., Gladkih E. Optical spectroscopy combined in situ with instrumented indentation. Journal of Applied Physics. 2022. Vol. 132. No. 12. https://doi.org/10.1063/5.0099166
Вотяков С.А., Кудряшов И.А., Budich C. и др. Исследование механических свойств полистирола при индентировании методом спектроскопии Мандельштама-Бриллюэна. Физика твердого тела. 2025. Т. 67. № 1. С. 202–205. https://doi.org/10.61011/FTT.2025.01.59790.355
Вотяков С.А., Кудряшов И.А., Budich C. и др. Картографирование напряжений in situ при индентировании кремния с использованием спектроскопии комбинационного рассеяния. Известия высших учебных заведений. Серия Химия и химическая технология. 2024. Т. 67. № 10. С. 22–28. https://doi.org/10.6060/ivkkt.20246710.10y
Научная статья
NanoScan SpectroIndenter: новый подход к наномеханическим испытаниям, ИНТЕГРИРОВАННЫМ В РАМАНОВСКИЕ МИКРОСКОПЫ
И.В.Лактионов1, инж., ORCID: 0000-0002-8576-3669 / box@ilaktionov.ru
А.С.Усеинов2, к.ф.-м.н., зам. дир., ORCID: 0000-0002-9937-0954
С.А.Вотяков2, мл. науч. сотр., ORCID: 0009-0007-9155-2853
В.Н.Решетов1, д.ф.-м.н., проф., доц., ORCID: 0000-0002-8426-5991
Г.Х.Султанова1, инж., ORCID: 0000-0002-4770-5724
Аннотация. Представлена конструкция измерительного модуля NanoScan SpectroIndenter, предназначенного для интеграции нанотвердомера с серийным рамановским микроскопом на примере модели Renishaw InVia. Инновационная инверсная компоновка устройства приложения нагрузки позволяет выполнять одновременно синхронизированные во времени измерения механических и оптических (структурных) характеристик. Приведены конструктивные особенности модуля и технологические преимущества при исследовании как прозрачных, так и непрозрачных материалов.
Ключевые слова: прозрачный индентор, деформация, спектрометр, наноиндентирование
Для цитирования: И.В. Лактионов, А.С. Усеинов, С.А. Вотяков, В.Н. Решетов, Г.Х. Султанова. NanoScan Spectroindenter: новый подход к наномеханическим испытаниям, интегрированным в рамановские микроскопы. НАНОИНДУСТРИЯ. 2025. Т. 18. № 3–4. С. 234–238. https://doi.org/10.22184/1993-8578.2025.18.3-4.234.238.
Received: 25.04.2025 | Accepted: 30.04.2025 | DOI: https://doi.org/10.22184/1993-8578.2025.18.3-4.234.238
Original paper
NanoScan SpectroIndenter: a new approach to nanomechanical testing INTEGRATED in RAMAN MICROSCOPES
I.V.Laktionov1, Engineer, ORCID: 0000-0002-8576-3669 / box@ilaktionov.ru
A.S.Useinov2, Cand. of Sci. (Physics and Mathematics), Deputy Director, ORCID: 0000-0002-9937-0954
S.A.Votyakov2, Junior Researcher, ORCID: 0009-0007-9155-2853
V.N.Reshetov1, Doct. of Sci. (Physics and Mathematics), Prof., Docent., ORCID: 0000-0002-8426-5991
G.H.Sultanova1, Engineer, ORCID: 0000-0002-4770-5724
Abstract. The design of the NanoScan SpectroIndenter measurement module for integrating a nanohardness tester with a commercially available Raman microscope is presented, using the Renishaw InVia model as an example. An innovative inverse load device layout allows simultaneous time-synchronized measurements of mechanical and optical (structural) characteristics. The design features of the module and its technological advantages for the examination of both transparent and opaque materials are presented.
Keywords: transparent indenter, deformation, spectrometer, nanoindentation
For citation: I.V. Laktionov, A.S. Useinov, S.A. Votyakov, V.N. Reshetov, G.H. Sultanova. NanoScan Spectroindenter: a new approach to nanomechanical testing integrated in Raman microscopes. NANOINDUSTRY. 2025. Vol. 18. No. 3–4. PP. 234–238. https://doi.org/10.22184/1993-8578.2025.18.3–4.234.238.
ВВЕДЕНИЕ
Современные методы исследования материалов все чаще требуют совмещения различных физических подходов в рамках одного экспериментального стенда. Одним из наиболее перспективных направлений в этой области является интеграция механических испытаний с оптическими и спектральными методами анализа [1–3]. Такое сочетание позволяет получать комплексную информацию о локальных свойствах материала под нагрузкой, включая как упруго-пластические характеристики, так и данные о фазовом составе, кристаллической структуре и химических изменениях в зоне контакта [4, 5].
Модуль нанотвердомера NanoScan SpectroIndenter разработан специально для совместной работы с рамановскими микроскопами фирмы Renishaw и обеспечивает выполнение механических испытаний непосредственно в фокусе оптического объектива. Особенность модуля заключается в его полной совместимости со штатной механикой и программным обеспечением спектрометра, что позволяет избежать сложных процедур сопряжения и обеспечивает воспроизводимость экспериментов. Это достигается благодаря оригинальной конструкции крепления за внешний металлический стакан, повторяющий геометрию типовых держателей образцов.
Центральным элементом измерительного модуля нанотвердомера является уникальный алмазный индентор-объектив [6], совмещающий функции механического нагружения и оптического наблюдения. Индентор выполнен из прозрачного монокристаллического алмаза, отполированного таким образом, чтобы минимизировать эффекты полного внутреннего отражения. Его особая геометрия позволяет не только точно фокусировать лазерный луч в зоне контакта, но и регистрировать обратное рассеяние, включая спектры комбинационного рассеяния [7]. Такой подход обеспечивает прямую визуализацию и спектроскопию деформируемой области материала в процессе нагружения, что является важнейшим преимуществом по сравнению с классическими схемами, основанными на последовательных измерениях.
РЕЗУЛЬТАТЫ
Компоновка модуля и механическая структура
Центральным элементом конструкции (рис.1) является жесткий металлический цилиндрический корпус, выполняющий функции несущей рамы. Именно за него осуществляется крепление устройства к спектрометру Renishaw. Выбор такого способа установки обусловлен конструкцией штатного держателя образцов спектрометра, представляющего собой моторизованный стол с возможностью пространственного позиционирования. Это решение позволило сохранить полную совместимость модуля с оригинальным программным обеспечением Renishaw, избежав необходимости создавать интерфейсы сопряжения двух независимых систем.
Само устройство реализует инверсную компоновку: весь механизм нагружения, включающий электромагнитный привод и систему датчиков, расположен ниже исследуемого образца. Рабочая поверхность образца ориентирована вверх, в сторону алмазного индентора, совмещенного с оптической системой. Такая схема позволила не только повысить стабильность измерений, исключив боковые смещения образца, но и обеспечить прямую видимость зоны контакта через объектив микроскопа.
Основное перемещение при внедрении реализуется за счет вертикального движения индентора, тогда как макропозиционирование образца по высоте осуществляется отдельно. Подобная схема обеспечивает стабильную кинематику при индентировании и позволяет точно наводить лазер спектрометра непосредственно на центр отпечатка.
Система нагружения, измерений и платформа образца
Верхняя часть модуля нанотвердомера содержит алмазный индентор-объектив, зафиксированный в металлической оправе и установленный в алюминиевый стакан (рис.2). Этот элемент связан с центральной подвижной обкладкой емкостного датчика и катушкой электромагнитного актуатора. Такая компоновка обеспечивает высокую жесткость системы, минимизируя люфты при работе с малыми нагрузками. Наружные обкладки закреплены на жестком металлическом стержне, поддерживающем стабильность измерительной геометрии.
Подвижная часть устройства подвешена на паре плоских упругих мембран, допускающих исключительно вертикальные перемещения. Это критически важно для контроля глубины внедрения и обеспечивает точное воспроизведение траектории нагружения. Несмотря на возросшую массу подвижной части, по сравнению с классическими нанотвердомерами, компактность конструкции сохранена, что позволяет вписать модуль в порт под предметным столиком стандартного рамановского микроскопа. Платформа для образца реализована в виде Г-образного столика, перемещаемого шаговым двигателем с винтовой передачей по роликовым направляющим. Такая схема обеспечивает надежное и точное позиционирование образца, включая макроскопическую подстройку высоты. Столик может быть выдвинут для удобной замены образца, не затрагивая основной конструкции модуля.
Также предусмотрена возможность быстрой замены инденторов: съемный узел крепления позволяет менять тип огранки или форму индентора в зависимости от задач эксперимента. Благодаря этому модуль подходит как для испытаний мягких полимеров, так и для анализа твердых кристаллов и покрытий. В целом, конструкция продумана с учетом модульности, что упрощает адаптацию системы к разным условиям эксплуатации.
Технологические и научные преимущества интеграции
Использование модуля нанотвердомера NanoScan SpectroIndenter позволяет выполнять спектральный анализ средствами рамановского микроскопа непосредственно в процессе механического нагружения. Такое совмещение открывает новые возможности для исследования поведения материала в режиме реального времени. Пользователь получает доступ как к традиционным механическим характеристикам (модуль упругости, глубина проникновения, работа деформации), так и к спектрам комбинационного рассеяния, чувствительным к фазовым и структурным преобразованиям.
Наиболее значимым преимуществом модуля является его способность работать с оптически прозрачными и непрозрачными образцами без искажения оптического сигнала. Это достигается за счет специальной геометрии индентора-объектива, которая минимизирует полное внутреннее отражение и обеспечивает прямой проход лазера в зону контакта. Таким образом, становится возможным картографирование напряжений, фаз и химических изменений с разрешением порядка 1 мкм.
ОБСУЖДЕНИЕ
Сравнение с аналогами, основанными на интеграции инденторов в СЭМ, показывает, что предлагаемая схема избавлена от ограничений вакуумной среды и позволяет наблюдать процессы "вживую", в условиях, близких к эксплуатации. Это особенно важно для биоматериалов, полимеров и многослойных систем. Разработанная конструкция уже применена при анализе кремниевых структур, покрытий и композиционных материалов [8, 9].
ВЫВОДЫ
Предложенная конструкция модуля нанотвердомера NanoScan SpectroIndenter демонстрирует высокую степень интеграции с существующей оптической инфраструктурой серийных рамановских микроскопов. Обеспечена как метрологическая точность, так и гибкость в работе с различными образцами. Реализация совмещенной диагностики открывает новые перспективы в области материаловедения и спектрального анализа. Модуль доказал свою работоспособность и пригодность к масштабированию. Компактная конструкция позволяет применять данный модуль не только в приборах Renishaw, но и других рамановских микроскопах, имеющих достаточное пространство под предметным столиком для размещения образцов. Развитие проекта включает оптимизацию систем подвода, автоматизацию процедуры съема и позиционирования образца, а также расширение диапазона нагрузок и частотной чувствительности спектральных измерений.
ИНФОРМАЦИЯ О РЕЦЕНЗИРОВАНИИ
Редакция благодарит анонимного рецензента (рецензентов) за их вклад в рецензирование этой работы, а также за размещение статей на сайте журнала и передачу их в электронном виде в НЭБ eLIBRARY.RU.
Декларация о конфликте интересов. Авторы заявляют об отсутствии конфликтов интересов или личных отношений, которые могли бы повлиять на работу, представленную в данной статье.
ЛИТЕРАТУРА / REFERENCES
Lee J. Structural heterogeneity of pharmaceutical compacts probed by micro-indentation // Journal of Materials Science: Materials in Medicine. 2008. Vol. 19. No. 5. PP. 1981–1990.
Wang M., Wu J., Zhan X., Guo R., Hui Y., Fan H. On the determination of the anisotropic plasticity of metal materials by using instrumented indentation. Materials & Design. 2016. Vol. 111. PP. 98–107.
Feng C., Kang B.S. A Transparent Indenter Measurement Method for Mechanical Property Evaluation // Experimental Mechanics. 2006. Vol. 46. No. 1. PP. 91–103.
Gerbig Y.B., Michaels C.A., Forster A.M., Cook R.F. In situ observation of the indentation-induced phase transformation of silicon thin films. Physical Review B. 2012. Vol. 85. No. 10. P. 104102.
Kassir-Bodon A., Deschamps T., Martinet C., Champagnon B., Teisseire J., Kermouche G. Raman Mapping of the Indentation-Induced Densification of a Soda-Lime-Silicate Glass. International Journal of Applied Glass Science. 2012. Vol. 3. No. 1. PP. 29–35.
Maslenikov I.I., Useinov A.S., Doronin M.A., Reshetov V.N. In Situ Surface Imaging Through a Transparent Diamond Tip. Instruments and Experimental Techniques. 2018. Vol. 61. No. 5. PP. 719–724. https://doi.org/10.1134/S002044121804022X
Useinov A., Reshetov V., Gusev A., Gladkih E. Optical spectroscopy combined in situ with instrumented indentation. Journal of Applied Physics. 2022. Vol. 132. No. 12. https://doi.org/10.1063/5.0099166
Вотяков С.А., Кудряшов И.А., Budich C. и др. Исследование механических свойств полистирола при индентировании методом спектроскопии Мандельштама-Бриллюэна. Физика твердого тела. 2025. Т. 67. № 1. С. 202–205. https://doi.org/10.61011/FTT.2025.01.59790.355
Вотяков С.А., Кудряшов И.А., Budich C. и др. Картографирование напряжений in situ при индентировании кремния с использованием спектроскопии комбинационного рассеяния. Известия высших учебных заведений. Серия Химия и химическая технология. 2024. Т. 67. № 10. С. 22–28. https://doi.org/10.6060/ivkkt.20246710.10y
Отзывы читателей
