C 1 по 4 июня в городе Черноголовка (Московская обл.) прошел XIX Российский симпозиум по растровой электронной микроскопии и аналитическим методам исследования твердых тел и III Школа молодых ученых "Современные методы электронной и зондовой микроскопии в исследованиях наноструктур и наноматериалов", организованный Институтом проблем технологии микроэлектроники и особочистых материалов РАН (ИПТМ РАН) и Институтом кристаллографии им. А.В.Шубникова РАН (ИК РАН). Финансовую поддержку мероприятию оказали Российский фонд фундаментальных исследований, а также компании Tokyo Boeki, CMA, “Оптэк”, TechnoInfo, Bruker и Oxford Instruments.

DOI:10.22184/1993-8578.2015.59.5.18.22

sitemap

Разработка: студия Green Art