DOI: 10.22184/NanoRus.2019.12.89.197.201

Обоснованы критерии выбора рационального объема и методического подхода к контролю соответствия изделий микроэлектроники требованиям в зависимости от категории радиационной стойкости (РС) на основе статистического анализа запасов и разбросов радиационно-чувствительных параметров изделий и реализующих технологических процессов для каждой категории.