sitemap
Наш сайт использует cookies и Яндекс Метрику. Продолжая просмотр, вы даёте согласие на обработку персональных данных и соглашаетесь с нашей
Политикой Конфиденциальности
Согласен
главная
eng
Поиск:
на сайте журнала
на всех сайтах РИЦ
Вход
Архив журнала
Журналы
Медиаданные
Редакционная политика
Реклама
Авторам
Контакты
© 2001-2026
РИЦ Техносфера
Все права защищены
Тел. +7 (495) 234-0110
Оферта
R&W
ISSN 1993-8578
ISSN 2687-0282 (online)
Книги по нанотехнологиям
Статьи
Наноиндустрия #3-4/2026
ПЕРВОЕ В МИРЕ НАБЛЮДЕНИЕ ИЗМЕНЕНИЯ НАНОСТРУКТУРЫ ПОВЕРХНОСТИ МАТЕРИАЛА, С КОСМИЧЕСКОЙ СКОРОСТЬЮ ВСТРЕЧАЮЩЕГО АТМОСФЕРУ В ПРОЦЕССЕ ПАДЕНИЯ НА ЗЕМЛЮ
Наноиндустрия #2/2026
ТОНКИЕ ПЛЕНКИ ОКСИДОВ ДЛЯ ЛАЗЕРНЫХ ЗЕРКАЛ
Новости
//
все новости
24.07.2026
Участникам Российского форума «Микроэлектроника 2026» предоставляется возможность повысить свою профессиональную квалификацию
17.07.2026
В центре внимания – двумерные материалы для микроэлектроники
События
//
все события
до 21.10.2026
26-я Международная выставка оборудования для неразрушающего контроля NDT Russia 2026. г. Москва
c 16.09.2026 до 18.09.2026
19-я международная специализированная выставка «Термообработка – 2026». г. Москва
Вход:
Ваш e-mail:
Пароль:
- запомнить меня
Регистрация
Забыли пароль?
Архив журнала:
2026
2025
2024
2023
2022
2021
2020
2019
2018
2017
2016
2015
2014
2013
2012
2011
2010
2009
2008
2007
Медиаданные:
О журнале
О публикациях
Предметная область и рубрикатор
Редакционная коллегия
Редакционный совет
Распространение
Учредитель
Издатель
План издания
Редакционная политика:
Редакционная политика РИЦ «ТЕХНОСФЕРА»
Редакционная политика журнала "НАНОИНДУСТРИЯ"
Реклама:
В журнале
На сайте
Отдел рекламы
Авторам:
Стратегия оформления
Наукометрия
Соискателям учёной степени
Требования к статьям и рецензирование
Контакты:
Распространение
Адрес
Редакция
Соцсети
Журналы:
Электроника НТБ
Наноиндустрия
Первая миля
Фотоника
Аналитика
Станкоинструмент
Книги по нанотехнологиям
читать книгу
Берлин Е.В., Двинин С.А., Сейдман Л.А.
Вакуумная технология и оборудование для нанесения и травления тонких пленок
читать книгу
Суминов И.В., Белкин П.Н., Эпельфельд А.В., Людин В.Б., Крит Б.Л., Борисов A.M.
Плазменно-электролитическое модифицирование поверхности металлов и сплавов. В 2-х томах. Т.1
читать книгу
Берлин Е.В., Сейдман Л.А.
Ионно-плазменные процессы в тонкопленочной технологии
Другие серии книг:
Мир материалов и технологий
Библиотека Института стратегий развития
Мир квантовых технологий
Мир математики
Мир физики и техники
Мир биологии и медицины
Мир химии
Мир наук о Земле
Мир электроники
Мир программирования
Мир связи
Мир строительства
Мир цифровой обработки
Мир экономики
Мир дизайна
Мир увлечений
Мир робототехники и мехатроники
Для кофейников
Мир радиоэлектроники
Библиотечка «КВАНТ»
Умный дом
Мировые бренды
Вне серий
Библиотека климатехника
Мир транспорта
Мир фотоники
Мир станкостроения
Мир метрологии
Мир энергетики
Книги, изданные при поддержке РФФИ
Тег "сапр"
Электроника НТБ #6/2012
А.Прикота
Схемотехническое моделирование в SimOne. Высокая скорость, высокая точность
Моделирование электронных схем – неотъемлемая часть процесса разработки радиоэлектронной аппаратуры. Широко применяемые для расчета электронных схем SPICE-алгоритмы точны, но скорость их работы мала для схем большой размерности. Программа компании "Эремекс" SimOne позволяет моделировать электронные схемы с использованием как классических SPICE-алгоритмов, так и оригинальных программных технологий и современных численных методов, существенно повышающих скорость вычислений при сохранении высокой точности моделирования.
Электроника НТБ #5/2012
В.Немудров, В.Мочкин
О неотложных мерах в микроэлектронике России
Более десяти лет в России на разных уровнях дискутируется идея создания сети дизайн-центров, национальной базы IP-блоков, сквозной системы проектирования, охватывающей и аппаратурные предприятия, и компании-производители элементной базы. На реализацию такой стратегии государство выделяло определенные средства, есть и элементная база, созданная в рамках подобной идеологии. Однако как система эта стратегия не заработала. Авторы предлагают ряд новых шагов в этом направлении, в том числе – создание Центра управления развитием ЭКБ. Безусловно, все эти предложения дискуссионные, но обсуждение проблемы управления государственными инвестициями в развитие отечественной ЭКБ более чем актуально.
Электроника НТБ #3/2012
Д.Моррис
Моделирование электромагнитных полей – как выбрать лучший метод
К точным методам проектирования интегральных схем относится расчет электромагнитных (ЭМ) полей в занимаемом ими объеме. За последние годы было предложено несколько технологий ЭМ-моделирования. Для решения определенной задачи, как правило, наиболее эффективна какая-то одна из технологий. О том, как ее правильно выбрать, рассказывается в статье.
Электроника НТБ #2/2012
С.Попов, Ю.Попов
САПР TopoR 5.3. Новые возможности
Описаны нововведения и усовершенствования новой версии отечественной САПР TopoR 5.3, удовлетворяющей растущим требованиям разработчиков современных радиоэлектронных устройств.
←
1
...
5
6
7
Разработка: студия
Green Art