sitemap
Наш сайт использует cookies и Яндекс Метрику. Продолжая просмотр, вы даёте согласие на обработку персональных данных и соглашаетесь с нашей
Политикой Конфиденциальности
Согласен
главная
eng
Поиск:
на сайте журнала
на всех сайтах РИЦ
Вход
Архив журнала
Журналы
Медиаданные
Редакционная политика
Реклама
Авторам
Контакты
© 2001-2026
РИЦ Техносфера
Все права защищены
Тел. +7 (495) 234-0110
Оферта
R&W
ISSN 1993-8578
ISSN 2687-0282 (online)
Книги по нанотехнологиям
Статьи
Наноиндустрия #5/2026
ВЛИЯНИЕ ПОДЛОЖКИ ПРИ ИЗМЕРЕНИИ МЕХАНИЧЕСКИХ СВОЙСТВ ТОНКИХ ПЛЕНОК МИКРОСФЕРИЧЕСКИМ ИНДЕНТОРОМ
Наноиндустрия #3-4/2026
ПЕРВОЕ В МИРЕ НАБЛЮДЕНИЕ ИЗМЕНЕНИЯ НАНОСТРУКТУРЫ ПОВЕРХНОСТИ МАТЕРИАЛА, С КОСМИЧЕСКОЙ СКОРОСТЬЮ ВСТРЕЧАЮЩЕГО АТМОСФЕРУ В ПРОЦЕССЕ ПАДЕНИЯ НА ЗЕМЛЮ
Новости
//
все новости
25.09.2026
Сформирована программа трека «Доверенные ЭКБ и ПАК для регулируемых рынков КИИ» на форуме «Микроэлектроника2026»
24.09.2026
В Зеленограде состоялась Предконференция №2 форума «Микроэлектроника 2026»
События
//
все события
до 21.10.2026
26-я Международная выставка оборудования для неразрушающего контроля NDT Russia 2026. г. Москва
c 19.10.2026 до 21.10.2026
23-я Международная выставка испытательного и контрольно-измерительного оборудования Testing&Control. г. Москва
Вход:
Ваш e-mail:
Пароль:
- запомнить меня
Регистрация
Забыли пароль?
Архив журнала:
2026
2025
2024
2023
2022
2021
2020
2019
2018
2017
2016
2015
2014
2013
2012
2011
2010
2009
2008
2007
Медиаданные:
О журнале
О публикациях
Предметная область и рубрикатор
Редакционная коллегия
Редакционный совет
Распространение
Учредитель
Издатель
План издания
Редакционная политика:
Редакционная политика РИЦ «ТЕХНОСФЕРА»
Редакционная политика журнала "НАНОИНДУСТРИЯ"
Реклама:
В журнале
На сайте
Отдел рекламы
Авторам:
Стратегия оформления
Наукометрия
Соискателям учёной степени
Требования к статьям и рецензирование
Контакты:
Распространение
Адрес
Редакция
Соцсети
Журналы:
Электроника НТБ
Наноиндустрия
Первая миля
Фотоника
Аналитика
Станкоинструмент
Книги по нанотехнологиям
читать книгу
Герасименко Н.Н., Пархоменко Ю.Н.
Кремний — материал наноэлектроники
читать книгу
Стародубцев Ю.Н.
Магнитомягкие материалы. Энциклопедический словарь-справочник
читать книгу
Суминов И.В.,Белкин П.Н., Эпельфельд А.В., Людин В.Б., Крит Б.Л., Борисов A.M.
Плазменно-электролитическое модифицирование поверхности металлов и сплавов. В 2-х томах. Т.2
Другие серии книг:
Мир материалов и технологий
Библиотека Института стратегий развития
Мир квантовых технологий
Мир математики
Мир физики и техники
Мир биологии и медицины
Мир химии
Мир наук о Земле
Мир электроники
Мир программирования
Мир связи
Мир строительства
Мир цифровой обработки
Мир экономики
Мир дизайна
Мир увлечений
Мир робототехники и мехатроники
Для кофейников
Мир радиоэлектроники
Библиотечка «КВАНТ»
Мир микроэлектроники
Умный дом
Мировые бренды
Вне серий
Библиотека климатехника
Мир транспорта
Мир фотоники
Мир станкостроения
Мир метрологии
Мир энергетики
Книги, изданные при поддержке РФФИ
Тег "technology"
Станкоинструмент #3/2026
А. П. Кузнецов, А. И. Бельзецкий
Технологическая экономика как целостность: аксиомы, законы, принципы
DOI: 10.22184/2499-9407.2026.44.3.18.28 Раскрыта целостность технологической экономики как явление, удерживающее собственную глубину и оформленность в технологическом мире. В работе прослежена онтологическая линия, в которой сущность, внутренний порядок целостности, технологическая оформленность и различимость образуют единый контур присутствия экономической реальности. На этой основе вводятся аксиомы, определяющие нижние границы выполнения условия целостности, законы, показывающие способы их действия, а также принципы независимости, развития, взаимосвязанности и взаимообусловленности, обеспечивающие согласованное проявление выражений целостности и логическую непрерывность онтологической конструкции. Архитектура целостности раскрывает порядок присутствия экономики, благодаря которому воспроизводство сохраняет непрерывность и получает устойчивую форму. Матрица архитектуры технологической целостности позволяет различать степени выраженности законов целостности, а метод диагностики фиксирует параметры удержания выражений, технологической оформленности и различимости. На примере технологической экономики России демонстрируется, каким образом эти параметры формируют индексы сфер экономической целостности и интегральный индекс целостности, позволяющий выявить зоны устойчивости и уязвимости. Исследование показывает, что целостный подход создает рамку, в которой технологическая экономика становится наблюдаемой без утраты глубины и получает возможность аналитического различения.
Электроника НТБ #5/2026
М. Макушин
СОСТОЯНИЕ РАЗРАБОТОК 6G-СЕТЕЙ СВЯЗИ В ВЕДУЩИХ СТРАНАХ МИРА. ЧАСТЬ 2
DOI: 10.22184/1992-4178.2026.257.5.146.150 Рассматриваются технологические аспекты развития 5G- и 6G-сетей и трудности их внедрения. Обсуждается состояние разработок в области 6G-связи в Китае, Японии, Ю. Кореи, Индии, ЕС и США.
Электроника НТБ #4/2026
М. Макушин
СОСТОЯНИЕ РАЗРАБОТОК 6G-СЕТЕЙ СВЯЗИ В ВЕДУЩИХ СТРАНАХ МИРА. ЧАСТЬ 1
DOI: 10.22184/1992-4178.2026.256.4.120.128 Рассматриваются технологические аспекты развития 5G- и 6G-сетей и трудности их внедрения. Обсуждается состояние разработок в области 6G-связи в Китае, Японии, Ю. Кореи, Индии, ЕС и США.
Станкоинструмент #2/2025
А. П. Кузнецов, О. С. Сухарев
Достигнутый уровень технологической независимости: проблемы и решения
DOI: 10.22184/2499-9407.2025.39.2.52.64 В статье с критических позиций рассматривается методика оценки достигнутого уровня технологической независимости, обобщаются ее основные недостатки и предлагается вариант их преодоления. В качестве методологии используется теория измерений и технологического развития, авторские подходы в области «экономики технологий» как нового научного направления, включающие типизацию, учет и измерение технологического потенциала и суверенитета. Предлагается алгоритм, существенно видоизменяющий утвержденную методику Минпромторга России и улучшающую ее в аспекте повышения правдоподобия оценки технологической независимости (суверенитета).
Станкоинструмент #3/2024
О. С. Сухарев
Измерение технологического развития: проблемы и способы их преодоления
DOI: 10.22184/2499-9407.2024.36.3.26.32 Статья посвящена рассмотрению измерительных проблем технологического развития, возникающих в современной экономической науке, имеющей трудности в рассмотрении технологичности хозяйственных систем, определении уровня технологического развития, вызванных сложностью агрегирования этого уровня и техническими ограничениями сравнительного анализа, если измерять по каждому отдельному направлению или объекту.
Электроника НТБ #6/2024
М. Макушин
АСПЕКТЫ РАЗВИТИЯ 6G-СЕТЕЙ. ЧАСТЬ 2
DOI: 10.22184/1992-4178.2024.237.6.116.128 В статье рассмотрены вопросы архитектуры и основных технологий, требующихся для развертывания 6G-сетей, и проблемы их реализации. Приводятся маршрутная карта развития 6G-сетей, составленная специалистами ЕС и США, а также примеры различных разработок для 6G-сетей.
Электроника НТБ #5/2024
М. Макушин
АСПЕКТЫ РАЗВИТИЯ 6G-СЕТЕЙ
DOI: 10.22184/1992-4178.2024.236.5.122.131 В статье рассмотрены вопросы архитектуры и основных технологий, требующихся для развертывания 6G-сетей, и проблемы их реализации. Приводятся маршрутная карта развития 6G-сетей, составленная специалистами ЕС и США, а также примеры различных разработок для 6G-сетей.
Электроника НТБ #2/2022
В. Иванов
ПЕРСПЕКТИВЫ И ВОЗМОЖНОСТИ ПРОИЗВОДСТВА микроLED-ДИСПЛЕЕВ
DOI: 10.22184/1992-4178.2022.213.2.106.113 Рассмотрен ряд технологических разработок для производства микроLED-дисплеев. Ожидается, что полноценная коммерциализация микроLED-дисплеев может стать реальностью в ближайшие годы.
Наноиндустрия #5/2020
Д.Г.Мустафаева
Анализ и исследование материаловедческих и технологических факторов при создании пленочных преобразователей
DOI: 10.22184/1993-8578.2020.13.5.304.307 Проведены анализ и исследование материаловедческих и технологических факторов при создании пленочных преобразователей, определены требования к материалам и их свойствам, технологии формирования элементов преобразователя. Показано, что учет материаловедческих и технологических факторов обеспечивает соответствие параметров изделия требуемым, устойчивость к внешним факторам, получение пленок исходного состава и стабильность технологии производства.
Наноиндустрия #2/2020
М.Г.Мустафаев, Д.Г.Мустафаева, Г.А.Мустафаев
Формирование контактно-металлизационных систем с улучшенными технологическими параметрами
DOI: 10.22184/1993-8578.2020.13.2.122.125 Показаны технологические подходы, улучшающие адгезию металлизации, уменьшающие структурные напряжения в пленке при осаждении и электромиграцию при формировании контактно-металлизационных систем элементов ИЭ.
1
2
→
Разработка: студия
Green Art