Наноиндустрия - научно-технический журнал - Материалы тега

главная

eng

Вход

Архив журнала

Журналы

Медиаданные

Редакционная политика

Авторам

Контакты

© 2001-2026
РИЦ Техносфера
Все права защищены
Тел. +7 (495) 234-0110
Оферта

R&W

ISSN 1993-8578
ISSN 2687-0282 (online)

Книги по нанотехнологиям

Тег "scanning probe microscopy"

Наноиндустрия #1/2012
K.Gogolinskiy, A.Useinov, A.Kuznetsov, V.Reshetov, S.Golubev
Метрологическое обеспечение измерений линейных размеров в нанометровом диапазоне

В работе обсуждается задача обеспечения прослеживаемости измерений линейных размеров в нанометровом диапазоне сканирующей зондовой микроскопией (СЗМ) к первичному эталону метра. Описывается сканирующий зондовый микроскоп "НаноСкан-3Di" с интегрированным трехкоординатным лазерным гетеродинным интерферометром. Рассмотрены особенности применения сверхострых алмазных наконечников для получения профиля поверхности методами СЗМ в сравнении со стандартными кремниевыми кантилеверами.

Наноиндустрия #6/2011
О.Синицына, И.Яминский
Высокоориентированный пиролитический графит

Высокоориентированный пиролитический графит (ВОПГ) находит широкое применение в науке и нанотехнологии. В статье систематизированы данные по строению поверхности ВОПГ. Показана зависимость структуры поверхности от параметра мозаичности. Приводится классификация основных дефектов поверхности сколов.

Наноиндустрия #1/2011
Д.Багров, Г.Мешков, О.Синицына, С.Смирнов, И.Яминский
Молекулярный экспресс анализ для диагностики и биомедицины

Современные методы наноаналитики – сканирующая зондовая микроскопия, атомные весы, оптическая микроскопия сверхвысокого разрешения за дифракционным приделом, флуоресцентная и интерференционная микроскопия – открывают новые возможности в медицинской диагностике на уровне отдельных биомакромолекул, вирусных частиц, клеток бактерий и высших организмов.

← 1 ... 6 7

8