sitemap
Наш сайт использует cookies. Продолжая просмотр, вы даёте согласие на обработку персональных данных и соглашаетесь с нашей
Политикой Конфиденциальности
Согласен
главная
eng
Поиск:
на сайте журнала
на всех сайтах РИЦ
Вход
Архив журнала
Журналы
Медиаданные
Редакционная политика
Реклама
Авторам
Контакты
© 2001-2026
РИЦ Техносфера
Все права защищены
Тел. +7 (495) 234-0110
Оферта
R&W
ISSN 1993-8578
ISSN 2687-0282 (online)
Книги по нанотехнологиям
Статьи
Наноиндустрия #1/2026
НОВЫЙ РОССИЙСКИЙ ПРИБОР ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ КОНЦЕНТРАЦИИ И РАЗМЕРА НАНОЧАСТИЦ В ЖИДКОСТИ — NP COUNTER
Наноиндустрия #1/2026
ОПЫТ ПРИМЕНЕНИЯ ОТКРЫТОЙ БИБЛИОТЕКИ ГРАДИЕНТНОГО БУСТИНГА CATBOOST НА ЭТАПЕ ТРАССИРОВКИ В РАМКАХ ФИЗИЧЕСКОГО СИНТЕЗА НА ОСНОВЕ ПЛИС
Новости
//
все новости
18.03.2026
На фестивале «Тех-Френдли Викенд» выступят Владимир Сурдин, Алексей Семихатов, Даниил Трабун и другие эксперты
11.03.2026
Открыт прием заявок на премию ЦИПР Диджитал-2026
События
//
все события
c 24.03.2026 до 25.03.2026
Санкт-Петербургский международный экологический форум «Экология большого города»
c 07.04.2026 до 09.04.2026
IPhEB 2026. г. Санкт- Петербург
Вход:
Ваш e-mail:
Пароль:
- запомнить меня
Регистрация
Забыли пароль?
Архив журнала:
2026
2025
2024
2023
2022
2021
2020
2019
2018
2017
2016
2015
2014
2013
2012
2011
2010
2009
2008
2007
Медиаданные:
О журнале
О публикациях
Предметная область и рубрикатор
Редакционная коллегия
Редакционный совет
Распространение
Учредитель
Издатель
План издания
Редакционная политика:
Редакционная политика РИЦ «ТЕХНОСФЕРА»
Редакционная политика журнала "НАНОИНДУСТРИЯ"
Реклама:
В журнале
На сайте
Отдел рекламы
Авторам:
Стратегия оформления
Наукометрия
Соискателям учёной степени
Требования к статьям и рецензирование
Контакты:
Распространение
Адрес
Редакция
Соцсети
Журналы:
Электроника НТБ
Наноиндустрия
Первая миля
Фотоника
Аналитика
Станкоинструмент
Книги по нанотехнологиям
читать книгу
Красников Г.
Система кремний-диоксид кремния
читать книгу
Герасименко Н.Н., Пархоменко Ю.Н.
Кремний — материал наноэлектроники
читать книгу
Акчурин Р.Х., Мармалюк А.А.
МОС-гидридная эпитаксия в технологии материалов фотоники и электроники
Другие серии книг:
Мир материалов и технологий
Библиотека Института стратегий развития
Мир квантовых технологий
Мир математики
Мир физики и техники
Мир биологии и медицины
Мир химии
Мир наук о Земле
Мир электроники
Мир программирования
Мир связи
Мир строительства
Мир цифровой обработки
Мир экономики
Мир дизайна
Мир увлечений
Мир робототехники и мехатроники
Для кофейников
Мир радиоэлектроники
Библиотечка «КВАНТ»
Умный дом
Мировые бренды
Вне серий
Библиотека климатехника
Мир транспорта
Мир фотоники
Мир станкостроения
Мир метрологии
Мир энергетики
Книги, изданные при поддержке РФФИ
Тег "fpga"
Электроника НТБ #1/2022
А. Строгонов, М. Белых, Д. Пермяков
АНАЛИЗ МЕТОДОВ РАСЧЕТА ЭКСПЛУАТАЦИОННОЙ ИНТЕНСИВНОСТИ ОТКАЗОВ БИС
DOI: 10.22184/1992-4178.2022.212.1.122.129 Наиболее популярные в России руководства для прогнозирования интенсивности отказов радиоэлектронных систем – справочник Министерства обороны США MIL-HDBK-217F и отечественный справочник «Надежность ЭРИ». В статье приведены сведения об описанных в этих справочниках моделях и методах оценки интенсивности отказов БИС, рассмотрены примеры расчета эксплуатационной интенсивности отказов для некоторых ПЛИС.
Электроника НТБ #1/2020
А. Строгонов, М. Кривчун, П. Городков
Обзор программных средств с открытым исходным кодом для исследования современных архитектур ПЛИС Xilinx
Исследование архитектур ПЛИС используя САПР с открытым исходным кодом дает возможность выявлять проблемы существующих ПЛИС, разрабатывать новые концепции и подходы к созданию коммерческих САПР. В статье представлен обзор открытых программ- ных инструментов, используемых в академической среде для изучения ПЛИС Xilinx. DOI: 10.22184/1992-4178.2020.192.1.100.107
Электроника НТБ #4/2019
С. Белоусов
Повышение стойкости к воздействию ТЗЧ устройств на базе ПЛИС с использованием инструмента Synplify Premier
Рассматривается применение мажоритарного резервирования при проектировании устройств, в частности, космического применения на основе ПЛИС различных типов для повышения их устойчивости к воздействию тяжелых заряженных частиц. Приводятся возможности реализации данного и других методов повышения надежности с помощью инструмента Synplify Premier от компании Synopsys. DOI: 10.22184/1992-4178.2019.185.4.82.87 УДК [004.9::658.512.22]::[004.31::629.78] ВАК 05.13.12
Электроника НТБ #4/2019
И. Тарасов
Применение ПЛИС класса «система на кристалле» Xilinx Zynq и подходы к проектированию на основе языков описания аппаратуры высокого уровня
Рассмотрены возможности существующих и перспективных семейств программируемых логических интегральных схем компании Xilinx с архитектурой «система на кристалле», а также предпочтительные подходы к проектированию цифровых систем под управлением процессоров на основе САПР Xilinx Vivado HLS. DOI: 10.22184/1992-4178.2019.185.4.62.66 УДК 004.2 ВАК 05.13.15
Электроника НТБ #4/2019
А. Строгонов
Характеристики надежности современных ПЛИС
В статье рассмотрена методика расчета экспериментальной интенсивности отказов ПЛИС с использованием статистики хи-квадрат, а также влияние сбоев, вызванных ионизирующим излучением, на характеристики надежности современных ПЛИС, выпускаемых по нанометровым проектным нормам. DOI: 10.22184/1992-4178.2019.185.4.52.58 УДК 621.3.049.774 ВАК 05.27.01
Электроника НТБ #1/2019
А. Петров, Д. Потехин, И. Тарасов
Применение систем на кристалле на базе ПЛИС в информационных системах управления производственным оборудованием
Рассматриваются свойства программируемых логических интегральных схем (ПЛИС) и возможности их применения в информационных системах управления производственным оборудованием. Предлагается архитектура системы, в которой ПЛИС выступают как элемент, осуществляющий сбор данных и их предварительную обработку, а также локальное управление исполнительными устройствами, реализуя таким образом подход туманных вычислений. УДК: [004.31+004.75]:681.518 | ВАК: 05.13.05 DOI: 10.22184/1992-4178.2019.182.1.112.116
Электроника НТБ #1/2019
М. Макушин, И. Черепанов
Некоторые аспекты развития рынка преобразователей данных
Рассмотрены основные тенденции рынка АЦП и ЦАП, дается прогноз объемов продаж до 2023 года. Спрос на преобразователи данных обусловлен, в основном, развитием рынков IoT, 5G и смартфонов, хотя они все шире используются и в системах военного назначения, телекоммуникаций, ЦОД. Приводятся краткая характеристика основных производителей АЦП / ЦАП и параметры новых преобразователей данных. УДК 621.38 | ВАК 05.27.01 DOI: 10.22184/1992-4178.2019.182.1.74.81
Наноиндустрия #9/2018
Павлов Антон Николаевич, Ливенцев Евгений Васильевич, Силантьев Александр Михайлович
Технология удаленной отладки аппаратной части и программного обеспечения систем на основе ПЛИС
В данной работе рассматриваются вопросы повышения производительности труда разработчиков систем на основе ПЛИС в состав которых входит микропроцессорное ядро. УДК 004.41 DOI: 10.22184/1993-8578.2018.82.186.189
Наноиндустрия #9/2018
Греков Артем Владимирович, Тюрин Сергей Феофентович
Совершенствование логики FPGA на основе увеличения разрядности LUT и создания адаптивных логических модулей
Получены выражения для оценок сложности и быстродействия декомпозиции многоразрядного LUT на LUT меньшей разрядности Выполнено сравнение сложности и задержки в количестве транзисторов при декомпозиции многоразрядного LUT в системе компьютерной математики Mathcad. Установлены особенности построения многоразрядных LUT и оценены различные варианты декомпозиции при дальнейшем увеличении размерности LUT с последующим выбором оптимального варианта адаптивного логического модуля. УДК 004.3, SPIN-код: 3745-5880, ORCID: 0000-0002-1553-6874 DOI: 10.22184/1993-8578.2018.82.160.166
Наноиндустрия #9/2018
Кузнецов Александр Сергеевич, Гришин Александр Геннадиевич, Татарчук Иван Александрович, Григорьев Илья Дмитриевич
Стенд для проведения испытаний навигационных модулей ЛСН
Приведено описание стенда для проведения испытаний навигационных модулей локальной системы навигации. Описана конструкция узлов стенда. Рассмотрены сценарии проведения испытаний навигационных модулей ЛСН. УДК 621.396.721, ББК 32.95 DOI: 10.22184/1993-8578.2018.82.62.63
←
1
2
3
→
Разработка: студия
Green Art