Наноиндустрия - научно-технический журнал - Материалы тега

главная

eng

Вход

Архив журнала

Журналы

Медиаданные

Редакционная политика

Авторам

Контакты

© 2001-2025
РИЦ Техносфера
Все права защищены
Тел. +7 (495) 234-0110
Оферта

R&W

ISSN 1993-8578
ISSN 2687-0282 (online)

Книги по нанотехнологиям

Тег "эталон"

Аналитика #4/2023
А. Л. Рунов, М. С. Вонский, Н. В. Иванникова
Обеспечение достоверности биоаналитических измерений нуклеиновых кислот для пищевой промышленности

https://doi.org/10.22184/2227-572X.2023.13.4.306.309 Биоаналитические измерения нуклеиновых кислот применяются при решении важнейших задач, стоящих перед пищевой промышленностью. Обеспечение международной сопоставимости измерений составляет основу для международной торговли. Международное сотрудничество метрологических институтов обеспечивает сопоставимость измерений, в том числе в области анализа нуклеиновых кислот. ФГУП «ВНИИМ им. Д. И. Менделеева» ведет работы по созданию государственного первичного эталона единицы числа копий последовательности ДНК, который позволит на национальном уровне обеспечить метрологическую прослеживаемость результатов измерений нуклеиновых кислот. Для удовлетворения потребностей аналитических лабораторий будут созданы стандартные образцы состава нуклеиновых кислот.

Аналитика #6/2018
К. В. Чекирда
Международная система единиц, основанная на фундаментальных физических константах

Международная система единиц СИ (SI) содержит семь основных единиц: секунда, метр, килограмм, ампер, кельвин, моль и кандела. В настоящей момент она пересматривается с целью обновления определений четырех из этих единиц. В ноябре 2018 года обновленные определения килограмма, ампера, кельвина и моля будут утверждены Генеральной конференцией по мерам и весам (КГМВ) и международным органом, ответственным за глобальную сопоставимость измерений. Ожидается, что изменения вступят в силу 20 мая 2019 года. УДК 351.821 DOI: 10.22184/2227-572X.2018.08.6.552.556

Наноиндустрия #5/2017
И.Пылев, И.Яминский
Эталон нанометра

Одна из проблем нанометрологии заключается в создании простого и доступного эталона длины в нанометровом диапазоне. На данный момент не существует малогабаритного эталона длиной ровно в 1 нм, с помощью которого можно было бы проводить калибровку сканирующего зондового микроскопа непосредственно в процессе сканирования. Его создание значительно упрощает процесс калибровки микроскопа, а сам эталон служит прочным метрологическим фундаментом для развития перспективных нанотехнологий. УДК 531.711 ВАК 05.02.23 DOI: 10.22184/1993-8578.2017.76.5.52.57

Фотоника #4/2016
О.Колмогоров, С.Донченко, Д.Прохоров, Б.Акулин, Н.Юстус
Средства метрологического обеспечения оптических рефлектометров и волоконно-оптических датчиков

Создание, испытания и эксплуатация волоконно-оптических систем связи и передачи информации (ВОСП), систем мониторинга на основе волоконно-оптических датчиков невозможны без проведения измерений их характеристик с помощью соответствующих средств измерений. В статье приведены требования нормативных документов по обеспечению единства измерений, рассмотрены методы и средства, применяемые при поверке и калибровке средств измерений параметров ВОСП и волоконно-оптических датчиков. DOI:10.22184/1993-7296.2016.58.4.94.100