sitemap
Наш сайт использует cookies и Яндекс Метрику. Продолжая просмотр, вы даёте согласие на обработку персональных данных и соглашаетесь с нашей
Политикой Конфиденциальности
Согласен
главная
eng
Поиск:
на сайте журнала
на всех сайтах РИЦ
Вход
Архив журнала
Журналы
Медиаданные
Редакционная политика
Реклама
Авторам
Контакты
© 2001-2026
РИЦ Техносфера
Все права защищены
Тел. +7 (495) 234-0110
Оферта
R&W
ISSN 1993-8578
ISSN 2687-0282 (online)
Книги по нанотехнологиям
Статьи
Наноиндустрия #3-4/2026
ПЕРВОЕ В МИРЕ НАБЛЮДЕНИЕ ИЗМЕНЕНИЯ НАНОСТРУКТУРЫ ПОВЕРХНОСТИ МАТЕРИАЛА, С КОСМИЧЕСКОЙ СКОРОСТЬЮ ВСТРЕЧАЮЩЕГО АТМОСФЕРУ В ПРОЦЕССЕ ПАДЕНИЯ НА ЗЕМЛЮ
Наноиндустрия #2/2026
ТОНКИЕ ПЛЕНКИ ОКСИДОВ ДЛЯ ЛАЗЕРНЫХ ЗЕРКАЛ
Новости
//
все новости
17.07.2026
В центре внимания – двумерные материалы для микроэлектроники
02.07.2026
Расширена научная программа Форума: первое заседание новой секции по пассивным электронным компонентам состоится на форуме «Микроэлектроника 2026»
События
//
все события
до 21.10.2026
26-я Международная выставка оборудования для неразрушающего контроля NDT Russia 2026. г. Москва
c 16.09.2026 до 18.09.2026
19-я международная специализированная выставка «Термообработка – 2026». г. Москва
Вход:
Ваш e-mail:
Пароль:
- запомнить меня
Регистрация
Забыли пароль?
Архив журнала:
2026
2025
2024
2023
2022
2021
2020
2019
2018
2017
2016
2015
2014
2013
2012
2011
2010
2009
2008
2007
Медиаданные:
О журнале
О публикациях
Предметная область и рубрикатор
Редакционная коллегия
Редакционный совет
Распространение
Учредитель
Издатель
План издания
Редакционная политика:
Редакционная политика РИЦ «ТЕХНОСФЕРА»
Редакционная политика журнала "НАНОИНДУСТРИЯ"
Реклама:
В журнале
На сайте
Отдел рекламы
Авторам:
Стратегия оформления
Наукометрия
Соискателям учёной степени
Требования к статьям и рецензирование
Контакты:
Распространение
Адрес
Редакция
Соцсети
Журналы:
Электроника НТБ
Наноиндустрия
Первая миля
Фотоника
Аналитика
Станкоинструмент
Книги по нанотехнологиям
читать книгу
Мак-Ивили А. Дж.
Анализ аварийных разрушений
читать книгу
Суминов И.В., Белкин П.Н., Эпельфельд А.В., Людин В.Б., Крит Б.Л., Борисов A.M.
Плазменно-электролитическое модифицирование поверхности металлов и сплавов. В 2-х томах. Т.1
читать книгу
Берлин Е.В., Сейдман Л.А.
Получение тонких пленок реактивным магнетронным распылением
Другие серии книг:
Мир материалов и технологий
Библиотека Института стратегий развития
Мир квантовых технологий
Мир математики
Мир физики и техники
Мир биологии и медицины
Мир химии
Мир наук о Земле
Мир электроники
Мир программирования
Мир связи
Мир строительства
Мир цифровой обработки
Мир экономики
Мир дизайна
Мир увлечений
Мир робототехники и мехатроники
Для кофейников
Мир радиоэлектроники
Библиотечка «КВАНТ»
Умный дом
Мировые бренды
Вне серий
Библиотека климатехника
Мир транспорта
Мир фотоники
Мир станкостроения
Мир метрологии
Мир энергетики
Книги, изданные при поддержке РФФИ
Тег "diffusion mri"
Наноиндустрия #3-4/2021
О.П.Познанский
Применение метода сверхвысокого разрешения в диффузионной МРТ
DOI: 10.22184/1993-8578.2021.14.3-4.188.195 Диффузионная МРТ – это метод магнитно-резонансной томографии, оценивающий случайное движение молекул в биологической ткани. Наиболее популярное его применение – исследование анизотропии тканей. В настоящее время методы визуализации с высоким разрешением позволяют делать выводы о структуре белого и серого вещества мозга. Тем не менее, такие потенциально ценные методы МРТ обычно не используются в медицинской практике, поскольку требуют длительного времени измерения. В этой работе мы используем диффузионную МРТ с низким разрешением и рассчитываем изображения с высоким разрешением с помощью реконструкции сверхвысокого разрешения. Мы рассчитываем тензор диффузии и точность его оценки по сравнению с альтернативными методами интерполяции. Демонстрируются преимущества техники сверхвысокого разрешения с точки зрения среднеквадратичной ошибки путем анализа дробной анизотропии и других тензорных инвариантов.
Разработка: студия
Green Art