sitemap
Наш сайт использует cookies и Яндекс Метрику. Продолжая просмотр, вы даёте согласие на обработку персональных данных и соглашаетесь с нашей
Политикой Конфиденциальности
Согласен
главная
eng
Поиск:
на сайте журнала
на всех сайтах РИЦ
Вход
Архив журнала
Журналы
Медиаданные
Редакционная политика
Реклама
Авторам
Контакты
© 2001-2026
РИЦ Техносфера
Все права защищены
Тел. +7 (495) 234-0110
Оферта
R&W
ISSN 1993-8578
ISSN 2687-0282 (online)
Книги по нанотехнологиям
Статьи
Наноиндустрия #3-4/2026
ПЕРВОЕ В МИРЕ НАБЛЮДЕНИЕ ИЗМЕНЕНИЯ НАНОСТРУКТУРЫ ПОВЕРХНОСТИ МАТЕРИАЛА, С КОСМИЧЕСКОЙ СКОРОСТЬЮ ВСТРЕЧАЮЩЕГО АТМОСФЕРУ В ПРОЦЕССЕ ПАДЕНИЯ НА ЗЕМЛЮ
Наноиндустрия #2/2026
ТОНКИЕ ПЛЕНКИ ОКСИДОВ ДЛЯ ЛАЗЕРНЫХ ЗЕРКАЛ
Новости
//
все новости
17.07.2026
В центре внимания – двумерные материалы для микроэлектроники
02.07.2026
Расширена научная программа Форума: первое заседание новой секции по пассивным электронным компонентам состоится на форуме «Микроэлектроника 2026»
События
//
все события
до 21.10.2026
26-я Международная выставка оборудования для неразрушающего контроля NDT Russia 2026. г. Москва
c 16.09.2026 до 18.09.2026
19-я международная специализированная выставка «Термообработка – 2026». г. Москва
Вход:
Ваш e-mail:
Пароль:
- запомнить меня
Регистрация
Забыли пароль?
Архив журнала:
2026
2025
2024
2023
2022
2021
2020
2019
2018
2017
2016
2015
2014
2013
2012
2011
2010
2009
2008
2007
Медиаданные:
О журнале
О публикациях
Предметная область и рубрикатор
Редакционная коллегия
Редакционный совет
Распространение
Учредитель
Издатель
План издания
Редакционная политика:
Редакционная политика РИЦ «ТЕХНОСФЕРА»
Редакционная политика журнала "НАНОИНДУСТРИЯ"
Реклама:
В журнале
На сайте
Отдел рекламы
Авторам:
Стратегия оформления
Наукометрия
Соискателям учёной степени
Требования к статьям и рецензирование
Контакты:
Распространение
Адрес
Редакция
Соцсети
Журналы:
Электроника НТБ
Наноиндустрия
Первая миля
Фотоника
Аналитика
Станкоинструмент
Книги по нанотехнологиям
читать книгу
Под ред. Л.И. Трахтенберга, М.Я. Мельникова
Металл/полупроводник содержащие нанокомпозиты
читать книгу
Под редакцией д.т.н., профессора Мальцева П.П.
Нанотехнологии. Наноматериалы. Наносистемная техника-2008
читать книгу
Акчурин Р.Х., Мармалюк А.А.
МОС-гидридная эпитаксия в технологии материалов фотоники и электроники
Другие серии книг:
Мир материалов и технологий
Библиотека Института стратегий развития
Мир квантовых технологий
Мир математики
Мир физики и техники
Мир биологии и медицины
Мир химии
Мир наук о Земле
Мир электроники
Мир программирования
Мир связи
Мир строительства
Мир цифровой обработки
Мир экономики
Мир дизайна
Мир увлечений
Мир робототехники и мехатроники
Для кофейников
Мир радиоэлектроники
Библиотечка «КВАНТ»
Умный дом
Мировые бренды
Вне серий
Библиотека климатехника
Мир транспорта
Мир фотоники
Мир станкостроения
Мир метрологии
Мир энергетики
Книги, изданные при поддержке РФФИ
Тег "femtoscan online"
Наноиндустрия #2/2022
А.А.Трухова, А.С.Филонов, И.В.Яминский
СЛОВА И СЛАВА ЗОНДОВОЙ МИКРОСКОПИИ: ЯЗЫК ДО ПЕКИНА ДОВЕДЕТ
DOI:
https://doi.org/10.22184/1993-8578.2022.15.2.88.94
В этой статье мы поговорим не о приборах, а о языке сканирующей зондовой микроскопии: об используемых словах, терминах, обозначениях. Программное обеспечение "ФемтоСкан Онлайн" широко используется в научных сообществах и до недавнего времени было представлено на двух языках: русском и английском. Теперь "ФемтоСкан Онлайн" стало доступно и на китайском языке, самом распространенном языке в мире. О том, как был произведен перевод интерфейса программы, мы расскажем в этой статье. В 1990 году МГУ посетил Нобелевский лауреат Хайнрих Рорер. На память осталась фотография и воспоминания об обаянии этого замечательного ученого и человека. А также дарственная надпись I wish all the best in local probing. В 1990 году еще не появился ни термин scanning probe microscopy, ни "сканирующая зондовая микроскопия". В 1993 году в журнале "Электронная промышленность" вышла серия статей, где мы описали методы локального зондирования поверхности [1]. Краткая триада "сканирующая зондовая микроскопия" появилась позже.
Наноиндустрия #1/2022
Т.А.Смирнова, З.С.Плиева, М.В.Зубашева, А.И.Ахметова, Ю.А.Смирнов, В.Г.Жуховицкий, И.В.Яминский
СТРУКТУРНАЯ ОРГАНИЗАЦИЯ ПОВЕРХНОСТИ СПОР BACILLUS CEREUS
10.22184/1993-8578.2022.15.1.8.16 Интерес к спорообразующим бактериям Bacillus cereus связан с их широкой распространенностью и способностью вызывать различные заболевания, главным образом желудочно-кишечного тракта. Споры патогенных микроорганизмов, в том числе и B. cereus, представляют большую проблему для медицины, фармакологии и пищевой промышленности из-за резистентности к различным факторам внешней среды. Свойства спор обусловлены их ультраструктурой. Базисная структура спор консервативна и состоит из экзоспориума, оболочки, внешней мембраны, кортекса, внутренней мембраны и сердцевины [1]. Однако наружные слои спор, включая экзоспориум, различаются у отдельных видов и штаммов, что позволяет сравнивать особенности их компонентов с помощью электронной микроскопии.
Наноиндустрия #7/2012
А.Большакова
Интернет-практикум по сканирующей зондовой микроскопии
В статье описывается опыт создания и апробации практикума по зондовой микроскопии в МГУ имени М.В.Ломоносова. Авторами лабораторных работ являются ведущие специалисты в области зондовой микроскопии. Была создана весовая модель зондового микроскопа, позволяющая отработать настройку обратной связи без ущерба для реального прибора. В настоящий момент практикум по зондовой микроскопии доступен также в дистанционном формате.
Разработка: студия
Green Art